物理学。修订稿。70，1244（1993）.使用光学零差层析成像测量光模式的维格纳分布和密度矩阵：压缩态和真空的应用

使用光学零差层析成像测量光模式的维格纳分布和密度矩阵：在压缩态和真空中的应用

D.T.Smithe、M.Beck、M.G.Raymer和A.Faridani

物理学。修订稿。70，1244–1993年3月1日出版

摘要

我们测量了电磁场模的真空态和正交压缩态的正交场振幅的概率分布。通过这些测量，我们展示了光学零差层析成像技术，以确定模式的维格纳分布和密度矩阵。这提供了测量模式的完整量子力学特性。

收到日期：1992年11月16日

内政部：https://doi.org/10.103/PhysRevLett.70.1244

©1993美国物理学会

作者和附属机构

D.T.史密斯,M.贝克、和M.G.Raymer先生

俄勒冈州尤金俄勒冈大学物理和化学物理研究所系，邮编：97403

俄勒冈州立大学数学系，俄勒冈科瓦利斯97331

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第70卷，第。1993年3月9日至1日

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