@第{zbMATH06031493条，作者={Van Den Doel，Kees and Ascher，Uri M.}，Title={电阻抗层析成像和{DC}电阻率问题的自适应和随机算法，分段常数解和多次测量}，FJournal＝{SIAM科学计算期刊}，期刊={SIAM J.科学计算}，ISSN={1064-8275}，体积={34}，数字={1}，页码={a185--a205}，年份={2012}，语言={英语}，DOI＝{10.1137/110826692}，关键词={65N21,35J25,65F10}，zbMATH={6031493}，Zbl={1241.65095}}