@收款{zbMATH07215744，作者={ter Maten、E.Jan W.和Beelen、Theo G.J.和Di Bucchianico、Alessandro和Pulch、Roland和R{“o}mer、Ulrich和De Gersem、Herbert和Janssen、Rick和Dohmen、Jos J.和Tasi{'c}、Bratislav和Gillon、Renaud和Wieers、Aarnout和Deleu、Frederik}，标题={估算失效概率}，BookTitle={纳米电子耦合问题解决方案}，国际标准图书编号={978-3-030-30725-7；978-3-0.30-30726-4}，页码={349--379}，年份={2019}，出版商={Cham:Springer}，语言={英语}，DOI={10.1007/978-3-030-30726-4_16}，关键词={65M75,65C05,60H35,35Q60,82D37,35Q82,35R60,62F15,62C10,62L20}，zbMATH＝{7215744}，Zbl={1453.65375}}