汉达，B.R。;Maitri，维奈 使用不同采样方案选择优于控制的恒定故障率单元的子集。 （英语） Zbl 0501.62011年 印度J.Pure Appl。数学。 13, 1231-1239 (1982). 页码：24/35−5 −4 −3 −2 −1 ±0 +1 +2 +3 +4 +5 显示扫描页面 MSC公司： 62F07型 统计排名和选择程序 62号05 可靠性和寿命测试 关键词：优于控制的恒定故障率单元的子集选择;不同的采样方案;指数总体;可靠性 PDF格式BibTeX公司 XML格式引用 \textit{B.R.Handa}和\textit{V.Maitri}，印度J.Pure Appl。数学。13、1231--1239（1982；Zbl 0501.62011）