欧阳、伊明;冯伟;梁华国 一种基于功率约束的NoC测试端口优化选择方法。 （中文。英文摘要） Zbl 1173.68423号 J.计算。申请。 28，第4期，1026-1028（2008）。 摘要：提出了一种优化的测试端口选择方法，可以确定功率约束下输入输出对的数量和位置。为了使所有核心测试路径的长度最短，选择了片上网络（NoC）测试端口的优化位置。在测试中最大允许功率的限制下，测试端口对的数量被选择得尽可能大。这样就可以高性能地完成岩心的测试，并且可以有效地避免测试中仪器的损坏。实验结果表明，该方法提高了测试效率，降低了NoC测试的总体成本。 MSC公司： 68M99型 计算机系统组织 关键词：片上系统（Soc）;片上网络（NoC）;测试访问机制 PDF格式BibTeX公司 XML格式引用 \textit{Y.-m.欧阳}等人，J.Compute。申请。28，第4号，1026--1028（2008；Zbl 1173.68423）