吉拉提斯、刘达斯;彼得·科科什卡;雷米吉尤斯·雷普斯;Teyssière、Gilles 关于连续和半长内存替代项下的\（R\）/\（S\）类型测试的能力。 （英语） Zbl 1029.62075号 《应用学报》。数学。 78，编号1-3，285-299（2003）. 摘要：本文讨论了在“连续”备选方案下R/S型试验的威力和稳健性。我们简要回顾了一些水平和波动性方面的长记忆模型，并描述了用于测试长记忆存在性的（R/S）型测试。在FARIMA、LARCH和ARCH时间序列模型中，当分数差分算子\（1-L）^d \替换为\（1-rL）^d\），且\（r<1）接近1时，研究了检验的经验功效。我们还研究了频率接近零时谱密度极点的Gegenbauer过程。 引用于6文件 MSC公司： 62M10个 统计学中的时间序列、自相关、回归等（GARCH） 关键词：长存储器;盖根鲍尔法;ARCH过程;线性拱形;半长记忆;修改的\（R/S\）统计;KPSS统计;\（V/S\）统计;半参数试验 PDF格式BibTeX公司 XML格式引用 \textit{L.Giraitis}等人，《应用学报》。数学。78，编号1--3，285--299（2003；Zbl 1029.62075） 全文： 内政部