潘忠良;陈玲;张光照 一种利用二元决策图检测多个故障的新方法。 （英语） Zbl 1120.68358号 武汉大学自然科学学院。 1943-1946年第6期第11页（2006年）. 摘要：随着集成电路复杂性的不断增加，电路中的局部缺陷可能会导致多重故障。具有多个故障的数字电路的行为可能与单个故障的行为有显著不同。本文提出了一种新的数字电路多故障检测方法，该方法基于二进制决策图（BDD）。首先，分别建立了正常电路和故障电路的BDD。其次，通过BDD对应于正常电路和故障电路的异或运算，得到测试BDD。在测试BDD中，指向标记为1的叶节点的每个输入赋值都是多个故障的测试向量。因此，通过搜索测试BDD中的输入赋值类型来生成多个故障的测试集。在一些数字电路上的实验结果表明了本文提出的方法的可行性。 MSC公司： 68米15 网络和计算机系统的可靠性、测试和容错 94C12号机组 故障检测；电路和网络测试 关键词：数字电路;多重故障;故障检测;二元决策图 PDF格式BibTeX公司 XML格式引用 \textit{Z.Pan}等，武汉大学自然科学学院。1943-1946年第6期11号（2006年；Zbl 1120.68358） 全文： 内政部 参考文献： [1] Kagaris D，Tragoudas S，Kuriakose S.InTeRail:基于核心的SOC测试架构[J]。IEEE Trans Computers，2006,55（2）：137-159·doi:10.1109/TC.2006.27 [2] Jone W B，Madden P H.无扇形电路最小单故障测试集的多故障测试[J]。IEEE Trans CAD，1993年，12（1）：149–156。 [3] Lai K，Lala P K.用最小单故障测试集检测无扇出电路中的多故障[J]。IEEE Trans Computer，1996,45（6）：763-765·Zbl 1049.68517号 ·数字对象标识代码：10.1109/12.506433 [4] 雅各布J，阿格拉瓦尔V D。二级多输出电路中的多故障检测[J]。《电子测试杂志：理论与应用》1992,3（1）：171-173·doi:10.1007/BF00137254 [5] Jone W B，Wu C.奇偶校验中的多故障检测[J]。IEEE Trans Computer，1994,43（10）：1096–1099·Zbl 1068.68594号 ·数字对象标识代码：10.1109/12.312118 [6] Peng J.双轨检查器多故障覆盖的高效生成[J]。国际电子学杂志，1997,83（6）：837-848·网址：10.1080/002072197135111 [7] Bryant R E.有序二元决策图的符号布尔运算[J]。ACM计算调查，1992年，24（3）：293–318·doi:10.1145/136035.136043 [8] Ebendt R，Günther W，Drechsler R.结合有序最佳优先搜索和分枝定界的精确BDD最小化[J]。IEEE Trans CAD，2005,24（10）：1515-1529。 [9] Heinrich-Litan L，Molitor P.利用对称性求OBDD尺寸的最小上界[J]。IEEE计算机Trans，2000，49（4）：360–367·数字对象标识代码：10.1109/12.844348 [10] Oliveira A L，Carloni L P，Villa T。二元决策图的隐式精确最小化[J]。IEEE Trans Computers，1998,47（11）：1282-1296·数字对象标识代码：10.1109/12.736442 [11] Minato S，Ishiura N，Yajima S.用于有效布尔函数操作的带属性边的共享二元决策图[C]//27届设计自动化会议。纽约：ACM出版社，1990:52–57。 此参考列表基于出版商或数字数学图书馆提供的信息。它的项目与zbMATH标识符启发式匹配，并且可能包含数据转换错误。在某些情况下，zbMATH Open的数据对这些数据进行了补充/增强。这试图尽可能准确地反映原始论文中列出的参考文献，而不要求完整或完全匹配。