M.S.阿巴迪尔。;香港Reghbati。 使用二进制决策图生成功能测试。 （英语） Zbl 0641.94035号 计算。数学。申请。 13, 413-430 (1987). 引用于1文件 MSC公司： 94立方厘米 交换理论，布尔代数的应用；布尔函数（MSC2010） 关键词：故障检测;D算法的扩展;集成电路;二元决策图;LSI/VLSI电路;互连模块网络 PDF格式BibTeX公司 XML格式引用 \textit{M.S.Abadir}和\textit{H.K.Reghbati}，计算。数学。申请。13、413--430（1987年；Zbl 0641.94035） 全文： 内政部 参考文献： [1] 阿巴迪尔，M.S。；香港Reghbati，《使用二进制决策图描述的数字电路的功能测试生成》，IEEE Trans。计算。，C35375-379（1986） [2] Reghbati，H.K.，VLSI测试和验证技术（1985），IEEE计算机学会出版社：IEEE计算机协会出版社，华盛顿特区·Zbl 0634.68057号 [3] 阿巴迪尔，M.S。；香港Reghbati，逻辑电路的功能规范和测试，计算机。数学。应用。，11, 12, 1143-1153 (1985) [4] Akers，S.B.，二进制决策图，IEEE Trans。计算。，C27509-516（1978）·Zbl 0377.94038号 [5] Akers，S.B.，《用二进制决策图进行功能测试》（Proc.8th Int.Symp.Fault Tolerant Computing（1978）），82-92 [6] Akers，S.B.，测试生成技术，计算机，13,9-15（1980） [7] 巴蒂尼，R.P。；Kime，C.R.，组合电路的模块级测试方法，IEEE Trans。计算。，C26594-604（1976）·Zbl 0327.94038号 [8] Breuer，医学硕士。；弗里德曼，A.D.，《数字系统的诊断和可靠性设计》（1976），计算机科学出版社：计算机科学出版社，华盛顿特区·Zbl 0378.94028号 [9] Breuer，医学硕士。；Friedman，A.D.，测试生成中的功能级原语，IEEE Trans。计算。，C29223-235（1980）·Zbl 0431.94053号 [10] Hayes，J.P。；McCluskey，E.J.，《基于微处理器的设计中的测试考虑》，《计算机》，13，17-26（1980） [11] 休伊，B.M。；Hill，F.J.，使用设计语言的测试生成，（Proc.Symp.Computer Hardware Description Languages（1975）），91-95 [12] Levendel，Y.H。；Menon，P.R.，计算机硬件描述语言的测试生成算法，IEEE Trans。计算。，C31577-588（1982） [13] 穆尔多夫，E.I。；Savkar，A.D.，LSI逻辑测试概述，IEEE Trans。计算。，C30，1-17（1981）·Zbl 0455.94036号 [14] 罗巴赫，C。；Saucier，G.，《微处理器功能测试》，（论文摘要，1980测试会议（1980），433-443 [15] Roth，J.P。；布瑞修斯（W.G.Bouricius）。；Schneider，P.R.，用于计算测试以检测和区分逻辑电路故障的编程算法，IEEE Trans。电子。计算。，EC16，567-580（1967） [16] Sridhar，T。；Hayes，J.P.，测试位片微处理器，（第九届容错计算研讨会摘要（1979）），211-218 [17] Su，S.H。；Hsieh，Y.，用寄存器转移语言描述的数字系统中的功能故障测试，（论文摘要，1981IEEE测试会议（1981），447-457 [18] Thatte，S.M.，《微处理器测试生成》（1979年伊利诺伊大学厄本那-香槟分校博士论文）·Zbl 0436.94044号 此参考列表基于出版商或数字数学图书馆提供的信息。其项与zbMATH标识符进行启发式匹配，可能包含数据转换错误。在某些情况下，zbMATH Open的数据对这些数据进行了补充/增强。这试图尽可能准确地反映原始论文中列出的参考文献，而不要求完整或完全匹配。