埃内斯托·桑切斯;马特奥·桑扎·雷尔达;乔瓦尼·斯基列罗 面向自动验证的测试集优化的有效技术。 （英语） Zbl 1100.68587号 国际J并行程序。 34，第1期，93-109（2006）. 摘要：大多数芯片上系统都包含一个定制的微处理器内核，而时间和资源的限制使得此类设备的设计成为一项具有挑战性的任务。本文提出了一种基于仿真的验证测试集自动完成和精化方法。该方法扩展了进化测试程序生成器GP，并有可能增强现有测试集。已经设计好的测试程序不仅包含在新的测试集中，还被吸收并用作新测试程序培养任务的起点。重复使用现有材料减少了微处理器设计期间生成验证测试集所需的时间。在一个小型流水线微处理器上的实验结果表明了该方法的有效性。此外，使用所建议的方法能够实验性地分析测试程序生成中使用的不同代码覆盖度量的关系 MSC公司： 60年第68季度 规范和验证（程序逻辑、模型检查等） 关键词：验证;微处理器;测试集优化;进化算法 PDF格式BibTeX公司 XML格式引用 \textit{E.Sánchez}等人，《国际并行程序》。34，第1号，93--109（2006；Zbl 1100.68587） 全文： 内政部 参考文献： [1] 半导体工业协会，国际半导体技术路线图，2002年更新，http://www.semichips.org/pre_stat.cfm？ID=153 [2] Agrawal V.和Bushnell M.，《数字、存储器和混合信号VLSI电路的电子测试要点》，Kluwer学术出版社（2000年）。 [3] Piziali A.，功能验证覆盖测量和分析，Kluwer学术出版社（2004）。 [4] Tasiran S.和Keutzer K.（2001年）。硬件设计功能验证的覆盖度量。IEEE计算机设计与测试18（4）：36–45·doi:10.1109/54.936247 [5] J.L.Chien Nan、C.Chen Yi、J.Jing Yang、L.Ming Chih和J.Xing Ming，HDL电路和系统中功能覆盖测量的新方法，ISCAS2000：2000年IEEE电路和系统国际研讨会，217–220（2000）。 [6] Shen J.和Abraham J.A.，《应用于自测和设计验证的处理器本地模式功能测试生成》，国际测试会议，990-999（1998）。 [7] Utamaphethai N.、Blanton R.D.和Shen J.P.，《微体系结构级超标量微处理器验证》，第12届IEEE超大规模集成电路设计国际会议，300-305（1999）。 [8] Heath J.R.和Durbha S.，《基于行为级HDL代码的流水线架构处理器的合成、测试和验证方法及案例研究示例》，IEEE SoutheastCon，143-149（2001）。 [9] Corno F.、Sánchez E.、Sonza Reorda M.和Squillero G.（2004年）。自动测试程序生成–案例研究。IEEE设计与测试、功能验证和测试台第21代（2）：102–109·Zbl 1044.68897号 [10] Corno F.、Sanchez E.、Sonza Reorda M.和Squillero G.（2004）。流水线微处理器功能验证的代码生成，电子测试杂志：理论与应用20（3）：269–278 [11] Squillero G.（2005）。MicroGP–进化装配程序生成器。遗传编程与进化机器杂志。6（3）：247–263（2005年9月）·数字对象标识代码：10.1007/s10710-005-2985-x [12] Friedberg R.M.（1958年）。学习机器：第一部分IBM研究与开发杂志2（1）：2–13·doi:10.1147/rd.21.0002 [13] Friedl J.，《掌握正则表达式》，O'Reilly and Associates（2002）·Zbl 1007.68016号 [14] Patterson D.A.和Hennessy J.L.，《计算机体系结构–定量方法》，第二版，Morgan Kaufmann（1996）·Zbl 0844.68003号 [15] Sailer P.M.和Sler P.M.，DLX指令集架构手册，Morgan Kaufmann（1996）。 此参考列表基于出版商或数字数学图书馆提供的信息。其项与zbMATH标识符进行启发式匹配，可能包含数据转换错误。在某些情况下，zbMATH Open的数据对这些数据进行了补充/增强。这试图尽可能准确地反映原始论文中列出的参考文献，而不要求完整或完全匹配。