乌韦·休伯纳 在开关级对静态数字CMOS电路进行分区和分析，以准备混合级测试生成。（分区和分析统计器，数字设备CMOS-Schaltungen auf der Schalterebene zur Vorbereitung einer Mixed-Level Testgenerierung。） （德语） Zbl 0818.68018号 Berichte der Gesellschaft für Mathematik und Datenverabeitung（GMD-Bericht）。226.《慕尼黑：奥尔登堡》，168页（1994年）。 Zusammenfassung：Die weiter sterrenture Komplexität integrier CMOS-Schaltungen lät Die Frage der Qualityätssicherung immer dringlicher werden。Anzahl von Bauelementen eines VLSI-Clips steht eine geringe Anzahl-externer Anschlüsse gegenüber，ueber die Der Qualityätsnachweis erbrach werden muß。Darüber hinaus modellieren die heute benutzten Fehlermodelle die tatsächlich auftretenden Fertigungsdefekte nur unzureichend。Buch zeigt eine Methode，um unabhängig von den verwendeen Entwurfswerkzeugen eine auf eine Transistorebene beschriebene Schaltung，so zu partitioneren and analyseren，daßzum einen defekt orienter Fehlermodele eingesetzt werden können是一种方法，它是一种晶体管，zum anderen die Verwendung schneller Algorithmen zur Testgenerierung auf der Gatterebene unterstützt wird公司。Die auf der Transistorebene errechneten lokalen Testmuster werden von einem Test generator auf der Gatterebene zu Testvektoren und Sollwerten für den gesamten Chip weiterverarbeitet的测试生成器。 MSC公司： 68-02 与计算机科学有关的研究博览会（专著、调查文章） 68M99型 计算机系统组织 关键词：CMOS电路;测试生成;VLSI-唇板 软件：苏格拉底 PDF格式BibTeX公司 XML格式引用 \textit{U.Hübner}，分区和分析统计器，数字处理器CMOS-Schaltungen auf der Schalterebene zur Vorbereitung einer Mixed-Level Testgenerierung。慕尼黑：奥尔登堡（1994；Zbl 0818.68018）