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Saluja，K.K。;H·藤原。;基诺希塔，K。

具有通用控制和最小开销的可编程逻辑阵列的可测试设计。 （英语） Zbl 0641.94041号

计算。数学。申请。 13, 503-517 (1987).
总结：在本文中，我们提出了一种设计易于测试的PLA的新技术。我们的设计是PLA的许多现有可测试设计的混合，因此几乎具有现有设计的所有功能。这些是（1）简单的设计，（2）高故障覆盖率，（3）易于在现有的设计自动化系统上实现，（4）PLA在正常操作中性能几乎没有退化，以及（5）无需测试模式生成和故障模拟。除此之外，我们将与PLA相关的硅面积开销g定义为目标函数。然后我们找到一个解决方案，使g在我们的设计中最小化。因此，我们PLA的附加功能是（6）“最小”开销。该技术包括添加一些位线以及一个移位寄存器，用于在测试模式期间控制产品线。额外的逻辑是以这样一种方式添加的：所有易于测试的特性都得到了维护，而额外逻辑的总面积被最小化。使用这种设计，可以检测到所有多个卡滞故障，以及所有多个额外和缺失的交叉点故障。

MSC公司：

94立方厘米 交换理论，布尔代数的应用；布尔函数（MSC2010）

关键词：

易测试PLA的设计;故障检测
PDF格式BibTeX公司 XML格式引用
\textit{K.K.Saluja}等人，计算。数学。申请。13、503--517（1987；Zbl 0641.94041）
全文： 内政部

参考文献：

[1] 藤原，H。；Kinoshita，K.，IEEE传输。电路系统。，CAS281027-1032（1981）·Zbl 0461.94020号
[2] Hong，S.J。；Ostapko，D.L.，FITPLA:功能相关测试的可编程逻辑阵列，（文摘，第十届国际容错计算学会（1980）），131-136
[3] Yajima，S。；Aramaki，T.，《自主测试可编程逻辑阵列》，（文摘，第11届国际容错计算研讨会（1981）），41-43
[4] Saluja，K.K。；基诺希塔，K。；Fujiwara，H.，《多故障可编程逻辑阵列的易于测试设计》，IEEE Trans。计算。，C321038-1046（1983）·Zbl 0525.94025号
[5] Khakbaz，J.，《低开销、高故障覆盖率的可测试PLA设计》，IEEE Trans。计算。，C33743-745（1984）
[6] Fujiwara，H.，一种新的PLA通用测试性设计，IEEE Trans。计算。，c33745-750（1984年）
[7] Hua，K.A。；Jou，J.Y。；Abraham，J.A.，《超大规模集成电路有限状态机的内置测试》（Proc.14th Int.Symp.Fault-Tolerant Computing（1984）），292-297
[8] 佐藤，T。；Tohma，Y.，《具有功能独立测试的PLA新配置》（技术报告（1982），东京理工大学计算机科学系：日本东京理工学院计算机科学系）
[9] Bozorgui-Nesbat，S。；McCluskey，E.J.，《可编程逻辑阵列可测试性的低开销设计》（Proc.1984 Int.Test Conf.（1984）），856-865
[10] Min，Y.，易于测试生成的PLA设计，（Proc.14th Int.Symp.Fault Tolerant Computing（1984）），436-442
[11] Saluja，K.K。；基诺希塔，K。；Boswell，C.，《并行可测试可编程逻辑阵列的设计》（Proc.Int.symp.Circuits and Systems（1985）），1325-1328·Zbl 0587.94016号
[12] 哈希特尔，G.D。；牛顿，A.R。；Sangiovanny-Vincentelli，A.L.，《PLA最佳折叠算法》，IEEE Trans。CAD集成电路系统。，CAD1，63-77（1982）
[13] Mak，R.H.，可编程逻辑阵列的优化，集成，2149-162（1984）
[14] Boswell，C.，《可编程逻辑阵列可测试设计的比较研究》（M.E.论文（1986），纽卡斯尔大学，N.S.W：澳大利亚N.S.W纽卡斯尔学院）
[15] Saluja，K.K。；Upadhaya，J.S.，《可编程逻辑阵列可测试设计的神圣与征服策略》，（第四届澳大利亚微电子会议，悉尼（1985）），121-127
[16] 米德，C。；Conway，L.，《超大规模集成电路系统简介》（1980），Addison-Wesley：Addison-Whesley Reading，MA
[17] Rajski，J。；Tyszer，J.，《易于测试的PLA设计》，Euromicro，139-146（1984）
[18] Rajski，J。；Agarwal，V.K.，《无逆变器PLA的测试特性和应用》，（1985年国际测试会议（1985）），500-507
[19] Ramanatha，K.S。；Biswas，N.N.，《可编程逻辑阵列中不可检测交叉点故障的可测试性设计》，IEEE Trans。计算。，c32551-557（1983年）·Zbl 0513.94004号
[20] Fukiwara，H.，《逻辑测试和可测试性设计》（1985年），麻省理工学院出版社：伦敦
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