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阵列对传感器故障的鲁棒性研究。 (英语) Zbl 1063.93048号

概述:由于传感器操作故障和环境影响,阵列响应中存在不确定性,导致性能下降,通常比应用要求所能承受的还要严重。为了测量不确定性对测向(DF)算法性能的影响,人们进行了各种尝试,此外,还开发了几种方法来检测或部分纠正由此产生的性能缺陷,从而提高阵列系统的鲁棒性。然而,传感器响应不确定性对最终阵列测向能力的影响,因为它们是由阵列流形特征决定的,尚未得到充分考虑。本文首先推导并研究了阵列测向能力对传感器响应误差的敏感性。然后提出了鲁棒性和可靠性措施。这些测量可以用作评估阵列几何结构中每个传感器重要性的工具,也可以用作比较多个阵列几何结构的标准。

MSC公司:

93E10型 随机控制理论中的估计与检测
93B35型 灵敏度(稳健性)
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全文: 内政部

参考文献:

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