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张，李;刘鹏;周勇（Zhou，Yong）

右删失数据分位数剩余寿命的平滑估计。 （英语） Zbl 1332.62399号

J.系统。科学。复杂。 28，第6期，1374-1388（2015）。
综述：分位数剩余寿命的估计在医学和许多其他领域都很有意义。在生存分析中，Kaplan-Meier（K-M）估计被广泛用于估计生存分布。然而，众所周知，K-M估计量是不连续的，因此它不能总是用于计算分位数剩余寿命。本文提出了一种核平滑方法来估计分位数剩余寿命。利用现代经验过程技术，巧妙地给出了所提出估计量的一致性和渐近正态性。作者还介绍了估计量的经验小样本性能。引入了缺陷来比较所提出的估计量和分位数剩余寿命的朴素非光滑估计量的性能。进一步的仿真研究表明，该估计器性能良好。

MSC公司：

62号05 可靠性和寿命测试
62号02 生存分析和删失数据中的估计
62G05型 非参数估计
93A30型 系统数学建模（MSC2010）

关键词：

经验过程;估计方程;影响曲线;Kaplan-Meier估计量;核平滑;分位数剩余寿命;右删失数据

软件：

科恩光滑
PDF格式BibTeX公司 XML格式引用
\textit{L.Zhang}等人，J.Syst。科学。复杂。28，第6号，1374-1388（2015；Zbl 1332.62399）
全文： 内政部

参考文献：

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