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模拟成像传感器中的暗电流和热像素。 (英语) Zbl 07290024号

摘要:使用具有结构化协方差矩阵的高斯混合模型来分析数字传感器在黑暗下记录的图像数据,以分别针对普通像素和可能有缺陷的像素,对温度和曝光持续时间对期望值和传感器暗电流方差的影响进行建模。该模型考虑了每种潜在类型中的两个方差分量:每幅图像中的随机噪声和传感器内的不均匀性;这两种成分都可以取决于实验条件。结果似乎表明,暗电流的期望值与曝光时间和温度的关系不能用简单的参数模型来表示。潜在类模型检测到至少两种类型的热点像素的存在。如果我们按类权重的降序排列潜在类,则相应的期望值和方差会增加。从我们的分析中得出的协方差结构有一个重要的含义:像素偏离均匀性的符号和相对大小对实验条件是不变的。

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62至XX 统计

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