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逆散射中出现的迹类Stekloff特征值问题的分析。 (英语) Zbl 1436.35121号

小结:由于Stekloff特征值问题在材料无损检测中的潜在应用,它最近成为了一个令人感兴趣的问题,但它有两个缺点,这两个缺点是这类特征值方法中常见的:一般不知道复系数情况下是否存在Stekloft特征值,而且,没有任何机制可以提高它们对所考虑介质材料特性变化的敏感性。我们提出了Stekloff特征值问题的一种变体,通过在边界条件中引入某种算子,克服了这两个问题,并且我们提供了数值例子来检验这种变体的实际后果。我们在可称为定制特征值方法的更广泛背景下讨论了这一想法,其中特征值问题旨在确保良好的理论或实际结果。

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35J25型 二阶椭圆方程的边值问题
35P05号 偏微分方程线性谱理论的一般主题
第35页第25页 偏微分方程的散射理论
35兰特 PDE的反问题

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