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基万·Jeon;Lee，Chang-Ock先生;吴恩杰

考虑非横向电流密度影响的MREIT中基于谐波（B_z）的电导率重建方法。 （英语） Zbl 1409.65086号

反向探测。科学。工程师。 26，第6号，811-833（2018）。
摘要：磁共振电阻抗成像（MREIT）是一种利用外部注入电流引起的测量磁通密度数据的高分辨率电导成像方法。包括谐波（B_z）算法在内的大多数MREIT图像重建方法都采用迭代方法来处理电导率与磁通密度之间的非线性关系。然而，当测量的磁通密度数据受到大量噪声污染时，迭代方法可能无法保证可靠的电导率重建。本文提出了一种新的图像重建方法，解决了迭代谐波（B_z）算法的技术难题。它有效地将迭代次数最多减少了两次。为了提高图像质量，它考虑了非横向电流密度的影响。提供理论观察和所提算法的详细信息，我们提供了数值模拟和模型实验的结果以进行验证。

引用于三文件

MSC公司：

65N21型 含偏微分方程边值问题反问题的数值方法
35J25型 二阶椭圆方程的边值问题
65N30型 偏微分方程边值问题的有限元、Rayleigh-Riz和Galerkin方法
92 C55 生物医学成像和信号处理

关键词：

磁共振成像;\基于（B_z）的算法;电导率和电流密度重建;非横向电流密度;幻影实验

软件：

维也纳CL;TetGen公司
PDF格式BibTeX公司 XML格式引用
\textit{K.Jeon}等人，《反问题》。科学。工程26，No.6，811--833（2018；Zbl 1409.65086）
全文： 内政部

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