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通过拍摄方法重建1D静电驱动MEMS器件的膜检测:收敛分析和重影解识别。 (英文) Zbl 1402.34031号

小结:在本文中,在静电场以膜的几何曲率表示的一维膜微电子机械系统领域,我们提出了一种基于打靶技术的数值方法来重建稳态情况下器件中的膜剖面。特别是,从文献中关于Schauder-Tychonoff不动点方法的存在性和唯一性的已知结果出发,重点关注分别适当指示膜的外加电压和机电特性的两个物理-数学参数,我们将讨论什么操作参数(外加电压、静电场的振幅),以及设备的机电膜特性允许与否,该方法相对于分析结果是否收敛。最后,我们将详细讨论检测到的重影解决方案。

MSC公司:

34B60码 常微分方程边值问题的应用
34B27型 常微分方程的格林函数
65升10 常微分方程边值问题的数值解
34B15号机组 常微分方程的非线性边值问题
74G75型 平衡固体力学中的反问题
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全文: 内政部

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