×

部分涂层裂纹散射的修正透射本征值问题。 (英语) Zbl 1398.35287号

小结:我们考虑检测部分涂层裂纹的表面阻抗变化,这是我们从修改的内部传输特征值问题引起的目标特征的偏移中推断出来的。我们在散射介质的性质编码在有界线性算子(T)中的一般情况下研究这个问题,并且我们为(T)提供了充分条件,这些条件暗示了这个问题的特征值的理想性质。最后,我们将部分涂层裂纹的散射置于该一般框架中,并通过一系列数值示例研究相关特征值对表面阻抗变化的敏感性。

MSC公司:

35兰特 偏微分方程的逆问题
35克74 PDE与可变形固体力学
74J20型 固体力学中的波散射
74卢比99 断裂和损坏
PDF格式BibTeX公司 XML格式引用
全文: 内政部

参考文献:

[1] 奥迪伯特,L。;卡科尼,F。;Haddar,H.,非均匀介质逆散射中的新特征值集及其从散射数据中确定,逆问题,33,(2017)·Zbl 1422.65355号 ·doi:10.1088/1361-6420/aa982f
[2] 奥迪伯特。;Haddar,H.,根据远场测量准确表征目标的线性采样方法的广义公式,反问题,30,(2014)·Zbl 1291.35377号 ·doi:10.1088/0266-5611/30/3/035011
[3] 奥迪伯特,L。;Haddar,H.,有限孔径测量的广义线性采样方法,SIAM J.成像科学。,10, 845-870, (2017) ·兹比尔1397.94005 ·doi:10.1137/16M110112X
[4] Bonnet-Ben Dhia,A.S。;Chesnel,L。;Haddar,H.,关于-矫顽力研究内透射特征值问题,C.R.数学。阿卡德。科学。,巴黎,349647-651,(2011)·Zbl 1244.35099号 ·doi:10.1016/j.crma.2011.05.008
[5] 卡科尼,F。;Colton,D.,裂纹的线性抽样方法,反问题,19279-295,(2003)·Zbl 1171.35487号 ·doi:10.1088/0266-5611/19/2/303
[6] 卡科尼,F。;Colton,D.,《逆散射理论的定性方法》(2014),纽约:Springer出版社,纽约·Zbl 1302.35001号
[7] 卡科尼,F。;科尔顿,D。;Haddar,H.,《逆散射理论和传输特征值》,(2016),宾夕法尼亚州费城:SIAM,宾夕法尼亚州,费城·Zbl 1366.35001号
[8] 卡科尼,F。;科尔顿,D。;孟,S。;Monk,P.,《逆散射中的Stekloff特征值》,SIAM J.Appl。数学。,76, 1737-1763, (2016) ·Zbl 1346.35228号 ·doi:10.1137/16M1058704
[9] Camaño,J。;拉克纳,C。;Monk,P.,《逆散射中的电磁Stekloff特征值》,SIAM J.Math。分析。,49, 4376-4401, (2017) ·Zbl 1375.35628号 ·doi:10.1137/16M1108893
[10] 科加,S。;科尔顿,D。;Leung,Y.,传输特征值的逆谱问题,逆问题,33,(2017)·兹比尔1372.35361 ·doi:10.1088/1361-6420/aa66d2
[11] 科加,S。;科尔顿,D。;孟,S。;Monk,P.,逆散射理论中的修正传输特征值,逆问题,33,(2017)·Zbl 1394.35305号 ·doi:10.1088/1361-6420/aa9418
[12] 科加,S。;科尔顿,D。;Monk,P.,空腔周围各向异性介质中异常的检测,逆问题,34,(2018)·Zbl 1400.78015号 ·doi:10.1088/1361-6420/aac8ef
[13] 科尔顿,D。;Kress,R.,逆声和电磁散射理论,(2013),纽约:Springer,纽约·Zbl 1266.35121号
[14] 科尔顿,D。;Monk,P。;Sun,J.,传输特征值的分析和计算方法,反问题,26,(2010)·Zbl 1192.78024号 ·doi:10.1088/0266-5611/26/4/045011
[15] Hansen,P.,正则化工具:用于分析和解决离散不适定问题的MATLAB包,Numer。算法,6,1-35,(1994)·Zbl 0789.65029号 ·doi:10.1007/BF02149761
[16] Hecht,F.,《年的新发展》,J.Numer。数学。,20, 251-265, (2012) ·Zbl 1266.68090号 ·doi:10.1515/jnum-2012-0013
[17] Kirsch,A。;Ritter,S.,《开放弧逆散射的线性采样方法》,《反问题》,第16期,第89-105页,(2000年)·Zbl 0968.35129号 ·doi:10.1088/0266-5611/16/308
[18] Sorber,L。;Van Barel,M。;De Lathauwer,L.,复变量实函数的无约束优化,SIAM J.Optim。,22, 879-898, (2012) ·Zbl 1260.90150号 ·doi:10.1137/110832124
[19] Sorber,L。;Van Barel,M。;De Lathauwer,L.,复杂优化工具箱v1.0,(2013)
[20] Sun,J。;Zhou,A.,特征值问题的有限元方法,(2017),佛罗里达州博卡拉顿:CRC出版社,佛罗里达州波卡拉顿·Zbl 1351.65085号
[21] Zeev,N.,从远场数据识别薄电介质物体的表面阻抗,反问题,27,(2011)·Zbl 1209.35155号 ·doi:10.1088/0266-5611/27/2/025011
[22] Zeev,N。;Cakoni,F.,《从远场或近场散射数据识别薄介质物体》,SIAM J.Appl。数学。,69, 1024-1042, (2009) ·Zbl 1173.35741号 ·电话:10.1137/070711542
[23] Zworski,M.,《半经典分析》(2012),普罗维登斯,RI:美国数学学会,普罗维登斯,RI·Zbl 1252.58001号
此参考列表基于出版商或数字数学图书馆提供的信息。其项与zbMATH标识符进行启发式匹配,可能包含数据转换错误。在某些情况下,zbMATH Open的数据对这些数据进行了补充/增强。这试图尽可能准确地反映原始论文中列出的参考文献,而不要求完整或完全匹配。