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使用非重复图案图像的特征点匹配进行缺陷检测。 (英语) 兹比尔1328.68275

摘要:缺陷检测是晶圆、TFTLCD和PCB生产过程中质量控制的重要技术。使用成品图像进行检查。这些图像被分为两个不同的组——具有规则循环重复图案的图像和没有重复图案的图片。需要一个用于比较的标准对象,因为对于没有重复图案的区域,无法进行手动缺陷检测。在这些区域,缺陷检测是通过对比参考模式和被检测模式来实现的。已经研究了使用参考图像进行检测的方法,但由于其对图像精确对齐的要求,这些方法存在局限性。本文提出了一种利用特征点匹配的缺陷检测方法来克服这种局限性。使用角点检测器提取特征点,并通过查找两个特征点集之间的对应关系来检测缺陷。通过使用晶片SEM图像来评估所提出的方法的性能,并与传统方法进行比较。实验结果表明,该方法比传统方法具有更高的检测精度,并且对对准误差和噪声不敏感。

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68单位10 图像处理的计算方法
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