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利用二分比测度检测和刻画小的稠密类二分子图。 (英语) Zbl 1406.68086号

蔡磊珍(编辑)等,《算法与计算》。2013年12月16日至18日,第24届国际研讨会,2013年国际会计准则委员会,中国香港。诉讼程序。柏林:施普林格出版社(ISBN 978-3-642-45029-7/pbk)。计算机科学课堂讲稿8283,655-665(2013)。
摘要:我们研究了寻找和刻画具有小双部比的子图的问题。我们给出了一个双标准近似算法SwpDB,如果存在体积的子集(S)最多(k)和双分割比(θ),那么对于任意(0≤varepsilon<1/2),它找到体积的集合(S^{prime})最多(2k^{1+varepsilen}),双分割比最多(4sqrt{theta/varepsilon})。通过组合截断操作,我们给出了一个局部算法LocDB,该算法在输出集的体积和双部分比率上与算法SwpDB具有渐近相同的近似保证,并且运行时间与图的大小无关(O(varepsilon^{2}\theta^{-2}k^{1+varepsilen}ln^{3}k)。最后,我们利用图的拉普拉斯算子的第k个最大特征值给出了小稠密类二部子图的谱特征。
关于整个系列,请参见[Zbl 1277.68005号].

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68兰特 计算机科学中的图论(包括图形绘制)
05元50分 图和线性代数(矩阵、特征值等)
05C75号 图族的结构特征
05C85号 图形算法(图形理论方面)
68周25 近似算法

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