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高质量的测试模式生成和布尔可满足性。 (英语) Zbl 1235.94003号

纽约州纽约市:施普林格出版社(ISBN 978-1-4419-9975-7/hbk;978-1-44109-9976-4/电子书)。十八、193页。(2012).
出版商描述:本书概述了自动测试模式生成(ATPG),并介绍了基于布尔可满足性(SAT)的新技术来补充经典的ATPG。提出了一种快速高效的基于SAT的ATPG框架,该框架还能够生成高质量的延迟测试,如鲁棒路径延迟测试,以及使用长传播路径的测试来检测小延迟缺陷。
本书中介绍的技术和方法的目的是改进基于SAT的ATPG,使其适用于工业实践。读者将学习提高整个测试生成过程的性能和鲁棒性,以便ATPG算法能够在可接受的运行时间内可靠地为大多数目标故障生成测试模式,以满足行业的高故障覆盖率需求。

MSC公司:

94-02 与信息与传播理论相关的研究展览(专著、调查文章)
68-02 与计算机科学有关的研究展览会(专著、调查文章)
2007年7月68日 计算机体系结构的数学问题
68米15 网络和计算机系统的可靠性、测试和容错
68T20型 人工智能背景下的问题解决(启发式、搜索策略等)
94C12号机组 故障检测;电路和网络测试
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全文: 内政部