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加速寿命测试规划,具有独立的对数正态竞争风险。 (英语) Zbl 1179.62147号

摘要:在加速寿命试验(ALT)中,为了及时获取信息,产品暴露于比正常使用时更高的压力水平。过去规划ALT的工作主要针对单一故障原因。本文介绍了在存在竞争风险的情况下规划ALT的方法。当风险是独立分布的对数正态分布时,给出了计算Fisher信息矩阵的表达式。在基于行列式和最大似然估计的准则下获得最佳测试计划。该方法在电机绝缘ALT上进行了验证。

MSC公司:

62纳米05 可靠性和寿命测试
62K05美元 最佳统计设计
62N01号 审查数据模型
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全文: 内政部

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