奥斯曼·哈桑；纳伊姆·阿巴斯；索菲涅·塔哈尔 可重构存储器阵列中固定故障的形式概率分析。 （英语） Zbl 1211.68032号 Leuschel，Michael（编辑）等人，《综合形式方法》。2009年2月16日至19日，德国杜塞尔多夫，第七届国际会议，IFM 2009。诉讼程序。柏林：施普林格出版社（ISBN 978-3-642-00254-0/pbk）。计算机科学课堂讲稿5423277-291（2009）。 摘要：在当今的系统芯片（SoC）中，具有空闲行和列的可重新配置内存阵列经常被用作可靠的数据存储组件。备用内存行和列可用于自动替换制造后发现包含单元故障的行或列。最大的SoC设计挑战之一是在实际制造过程之前估计这些备用行和备用列的正确数量，以满足可靠性规范。传统上，计算机模拟技术用于对可重新配置的存储器阵列进行概率分析，但它们提供了不准确的结果。为了确保准确的分析，从而确保更可靠的SoC设计，我们在本文中提出了一种可重构存储器阵列分析领域的概率定理证明方法。我们提出了可重构存储阵列的高阶逻辑卡阻故障模型，在此基础上，我们说明了与卡阻故障数量和可修复性条件相关的一些关键统计特性的形式化验证。关于整个系列，请参见[Zbl 1156.68005号]. 引用于1文件 MSC公司： 68米15 网络和计算机系统的可靠性、测试和容错 60年第68季度 规范和验证（程序逻辑、模型检查等） 68吨15 定理证明（演绎、解析等）（MSC2010） 软件：毫升；VESTA公司；HOL公司 PDF格式BibTeX公司 XML格式引用 \textit{O.Hasan}等人，Lect。注释计算。科学。5423，277--291（2009；Zbl 1211.68032） 全文： 内政部 参考文献： [1] Baier，C.，Haverkort，B.，Hermanns，H.，Katoen，J.P.：连续时间马尔可夫链的模型检查算法。IEEE软件工程学报29（4），524–541（2003）·Zbl 05113886号 ·doi:10.1109/TSE.2003.1205180 [2] Blough，D.M.：包含集群故障的存储器阵列重构算法的性能评估。IEEE可靠性汇刊45（2），274–284（1996）·Zbl 04532723号 ·doi:10.1109/24.510815 [3] Clarke，E.M.，Grumberg，O.，Peled，D.A.：模型检查。麻省理工学院出版社，剑桥（2000） [4] DeGroot，M.：概率与统计。Addison-Wesley，雷丁（1989）·Zbl 0349.62001号 [5] Devroye，L.：非均匀随机变量生成。斯普林格，海德堡（1986）·Zbl 0593.65005号 ·doi:10.1007/978-1-4613-8643-8 [6] Gordon，M.J.C.：在高阶逻辑中实现编程逻辑的机械化。摘自：《硬件验证和自动定理证明的当前趋势》，第387-439页。斯普林格，海德堡（1989）·doi:10.1007/978-1-4612-3658-0_10 [7] Gordon，M.J.C.，Melham，T.F.：HOL简介：高阶逻辑的定理证明环境。剑桥大学出版社，剑桥（1993）·兹比尔0779.68007 [8] Gupta，A.：正式硬件验证方法：综述。系统设计中的形式方法1（2-3），151–238（1992）·doi:10.1007/BF00121125 [9] Harrison，J.：用实数证明定理。斯普林格，海德堡（1998）·Zbl 0932.68099号 ·doi:10.1007/978-1-4471-1591-5 [10] Hasan，O.：使用定理证明的形式概率分析。加拿大魁北克省蒙特利尔康考迪亚大学博士论文（2008年） [11] Hasan，O.，Tahar，S.：连续概率分布的形式化。收录：Pfenning，F.（编辑）CADE 2007。LNCS（LNAI），第4603卷，第3-18页。斯普林格，海德堡（2007）·Zbl 1213.68570号 ·doi:10.1007/978-3-540-73595-32 [12] Hasan，O.，Tahar，S.：HOL中离散随机变量期望特性的验证。收录：Schneider，K.，Brandt，J.（编辑）TPHOLs 2007。LNCS，第4732卷，第119–134页。斯普林格，海德堡（2007）·兹比尔1144.68358 ·doi:10.1007/978-3-540-74591-4_10文件 [13] Hasan，O.，Tahar，S.：HOL定理证明程序中尾部分布界限的形式验证。应用科学中的数学方法（2008），http://www3.interscience.wiley.com/journal/120747455/摘要 ·Zbl 1167.68053号 [14] Hurd，J.：概率算法的形式验证。英国剑桥大学博士论文（2002年）·Zbl 1013.68193号 [15] ITRS（2008），http://www.itrs.net/links/2003itrs/home2003.htm [16] Kuo，S.、Fuchs，W.K.：可重构阵列的高效备用分配。IEEE计算机设计与测试4（1），24-31（1987）·Zbl 05333731号 ·doi:10.1109/MDT.1987.295111 [17] Kwiatkowska，M.，Norman，G.，Parker，D.：概率模型检验PRISM定量分析。理论计算机科学电子笔记153（2），5-31（2005）·doi:10.1016/j.entcs.2005.10.030 [18] Low，C.P.，Leong，H.W.：耦合故障下内存重构的概率分析。收录：IEEE VLSI系统缺陷和容错国际研讨会论文集（1992年）·doi:10.1109/DFTVS.1992.224379 [19] 麦凯，D.J.C.：蒙特卡罗方法简介。摘自：《图形模型学习》，《北约科学丛书》，第175-204页。Kluwer学术出版社，Dordrecht（1998）·Zbl 0911.65004号 ·doi:10.1007/978-94-011-5014-9_7 [20] Miczo，A.：数字逻辑测试与仿真。Wiley Interscience，奇切斯特（2003）·doi:10.1002/0471457787 [21] Nicolaidis，M.，Achouri，N.，Anghel，L.：纳米技术的多样化内存内置自修复方法。摘自：第22届IEEE VLSI测试研讨会论文集，第313–318页（2004年）·doi:10.1109/VTEST.2004.1299258 [22] Rutten，J.，Kwaiatkowska，M.，Normal，G.，Parker，D.：分析并发和概率系统的数学技术。CRM专题丛书，第23卷。美国数学学会（2004） [23] Sehgal，A.，Dubey，A.，Marinissen，E.J.，Wouters，C.，Vranken，H.，Chakrabarty，K.：可修复嵌入式存储器的冗余建模和阵列产量分析。IEE计算机与数字技术学报152（1），97–106（2005）·doi:10.1049/ip-cdt:20045018 [24] Sen，K.，Viswanathan，M.，Agha，G.：VESTA：概率系统的统计模型检查器和分析器。In：程序。IEEE国际系统定量评估会议，第251–252页（2005年）·doi:10.1009/QEST.2005.42 [25] Shi，W.，Fuchs，W.K.：内存阵列重构的概率分析和算法。IEEE集成电路和系统计算机辅助设计汇刊11（9），1153–1160（1992）·Zbl 05449665号 ·数字对象标识代码：10.1109/43.160001 此参考列表基于出版商或数字数学图书馆提供的信息。其项与zbMATH标识符进行启发式匹配，可能包含数据转换错误。在某些情况下，zbMATH Open的数据对这些数据进行了补充/增强。这试图尽可能准确地反映原始论文中列出的参考文献，而不要求完整或完全匹配。