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一种考虑高维产品质量数据的基于特征选择的质量预测新方法。 (英语) Zbl 1513.62257号

产品质量是企业生存和发展的生命线。随着信息技术的快速发展,半导体制造工艺产生了许多质量特征。由于质量特征的不断增加,对质量预测方法的训练时间和分类精度的要求越来越高。为了实现半导体制造过程的质量预测,考虑到数据的高维和非线性特性,提出了一种基于特征选择的改进支持向量机(SVM)模型。该模型首先对支持向量机中的径向基函数(RBF)进行了改进,然后结合Duelist算法(DA)和可变邻域搜索算法(VNS)进行特征选择和参数优化。与基于DA、遗传算法(GA)和信息增益算法(IG)的其他SVM模型相比,实验结果表明,我们的DA-VNS-SVM能够以较小的特征子集获得较高的分类准确率。此外,我们将DA-VNS-SVM与一些常见的机器学习算法进行了比较,如逻辑回归、朴素贝叶斯、决策树、随机森林和人工神经网络。结果表明,我们的模型在半导体质量预测方面优于这些机器学习算法。

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第60页 统计学在工程和工业中的应用;控制图
68T20型 人工智能背景下的问题解决(启发式、搜索策略等)

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