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时间相关鲁棒优化的解耦方法及其在功率半导体器件中的应用。 (英语) Zbl 1481.90297号

摘要:本文通过引入期望区间质量损失的概念作为鲁棒性度量,提出了一种时变鲁棒优化模型。目的是为涉及随机过程的功率半导体器件提供一种潜在的分析工具。与传统的鲁棒性指标不同,该指标是通过计算最大瞬时质量损失的期望和变化,并捕获质量损失在时间间隔上的自相关性来制定的。在模型求解方面,时间依赖的鲁棒优化涉及嵌套优化,即外部设计优化需要频繁调用内部鲁棒性分析。这将导致极低的计算效率。为了减少鲁棒性评估,提出了一个解耦框架,将嵌套优化转化为设计优化和时变鲁棒性分析的连续迭代过程。为了进一步提高每个稳健性分析的效率,基于上一次迭代的信息创建了质量特征的半二阶近似值。功率半导体器件的两个工程应用验证了该方法的有效性和可行性。

MSC公司:

90立方厘米 灵敏度、稳定性、参数优化
90立方厘米 随机规划
90立方厘米 数学规划中的稳健性
90 C90 数学规划的应用
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全文: 内政部

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