潘忠良;陈玲;张光照 一种使用二进制决策图检测多个故障的新方法。 (英语) Zbl 1120.68358号 武汉大学自然科学学院。 1943-1946年第6期第11页(2006年). 摘要:随着集成电路复杂性的不断增加,电路中的局部缺陷可能会导致多重故障。具有多个故障的数字电路的行为可能与单个故障的行为显著不同。本文提出了一种新的数字电路多故障检测方法,该方法基于二进制决策图(BDD)。首先,分别建立了正常电路和故障电路的BDD。其次,通过BDD对应于正常电路和故障电路的异或运算,得到测试BDD。在测试BDD中,指向标记为1的叶节点的每个输入赋值都是多个故障的测试向量。因此,通过搜索测试BDD中的输入赋值类型来生成多个故障的测试集。在一些数字电路上的实验结果表明了本文提出的方法的可行性。 MSC公司: 68米15 网络和计算机系统的可靠性、测试和容错 94C12号机组 故障检测;电路和网络测试 关键词:数字电路;多重故障;故障检测;二元决策图 PDF格式BibTeX公司 XML格式引用 \textit{Z.Pan}等,武汉大学自然科学学院。1943-1946年第6期11号(2006年;Zbl 1120.68358) 全文: 内政部 参考文献: [1] Kagaris D,Tragoudas S,Kuriakose S.InTeRail:基于核心的SOC测试架构[J]。IEEE跨计算机,2006,55(2):137–159·doi:10.1109/TC.2006.27 [2] Jone W B,Madden P H.无扇形电路最小单故障测试集的多故障测试[J]。IEEE Trans CAD,1993年,12(1):149–156。 [3] Lai K,Lala P K.用最小单故障测试集检测无扇出电路中的多故障[J]。IEEE Trans Computer,1996,45(6):763-765·Zbl 1049.68517号 ·数字对象标识代码:10.1109/12.506433 [4] 雅各布J,阿格拉瓦尔V D。二级多输出电路中的多故障检测[J]。《电子测试杂志:理论与应用》1992,3(1):171-173·doi:10.1007/BF00137254 [5] Jone W B,Wu C.奇偶校验中的多故障检测[J]。IEEE Trans Computer,1994,43(10):1096–1099·Zbl 1068.68594号 ·数字对象标识代码:10.1109/12.312118 [6] Peng J.双轨检查器多故障覆盖的高效生成[J]。国际电子学杂志,1997,83(6):837-848·doi:10.1080/02072197135111 [7] Bryant R E.有序二元决策图的符号布尔运算[J]。ACM计算调查,1992年,24(3):293–318·doi:10.1145/136035.136043 [8] Ebendt R,Günther W,Drechsler R.将有序最佳第一搜索与分枝和定界相结合实现精确BDD最小化[J]。IEEE Trans CAD,2005,24(10):1515-1529。 [9] Heinrich-Litan L,Molitor P.利用对称性求OBDD尺寸的最小上界[J]。IEEE Trans on Computers,2000年,49(4):360–367·数字对象标识代码:10.1109/12.844348 [10] Oliveira A L,Carloni L P,Villa T。二元决策图的隐式精确最小化[J]。IEEE Trans Computers,1998,47(11):1282-1296·数字对象标识代码:10.1109/12.736442 [11] Minato S,Ishiura N,Yajima S.用于有效布尔函数操作的带属性边的共享二元决策图[C]//27届设计自动化会议。纽约:ACM出版社,1990:52–57。 此参考列表基于出版商或数字数学图书馆提供的信息。其项与zbMATH标识符进行启发式匹配,可能包含数据转换错误。在某些情况下,zbMATH Open的数据对这些数据进行了补充/增强。这试图尽可能准确地反映原始论文中列出的参考文献,而不要求完整或完全匹配。