曾盛泰;Tang,Jen唐,任;Ku、In-Hong 高可靠性产品老化参数和剩余寿命的测定。 (英语) Zbl 1044.90022号 导航。Res.Logist公司。 50,第1期,第1-14页(2003年). 概要:今天,许多产品的设计和制造都是为了在出现故障之前长时间运行。对于高可靠性产品的制造商来说,确定产品可靠性是一个巨大的挑战,因为只有相对较短的时间可用于内部寿命测试。特别是,可能很难确定最佳老化参数和表征剩余寿命分布。一种有希望的替代方法是使用质量特性(QC)的数据,其随时间的退化可能与产品故障有关。通常,产品故障对应于超过临界值的退化路径的首次通过时间。如果退化路径可以正确建模,则可以预测故障时间并确定寿命分布,而无需实际观察故障。在本文中,我们首先使用维纳过程来描述产品质量特性的连续退化路径。维纳过程允许在不同时间点收集的数据之间存在非恒定方差和非零相关性。我们提出了一种将机组分为正常或弱的决策规则,并给出了确定老化试验最佳终止时间和其他参数的经济模型。接下来,我们提出了一种评估通过单元的产品寿命分布的方法。建议的方法都仅基于产品的初始观察降解数据。最后,用一个电子产品的例子,即接触式图像扫描仪(CIS)来说明所提出的程序。 引用于24文件 MSC公司: 90B25型 运筹学中的可靠性、可用性、维护和检查 关键词:老化试验;退化数据;经济成本模型;最佳终止时间;剩余寿命评估;维纳过程 PDF格式BibTeX公司 XML格式引用 \textit{S.-T.Tseng}等人,海军。Res.Logist公司。50,第1号,1-14(2003;Zbl 1044.90022) 全文: 内政部 参考文献: [1] Alexanian,IEEE Trans Reliab R-26第359页–(1977年) [2] Bai,Nav-Res Logistics 42 pp 1081–(1995) [3] 以及《逆高斯分布:理论与方法及其应用》,Marcel Dekker,纽约,1989年。 [4] Doksum,《技术计量学》34,第74页–(1992年) [5] 《老化:老化程序设计和分析的工程方法》,纽约威利出版社,1982年。 [6] 《创造质量:结果的过程设计》,McGraw-Hill,纽约,1999年。 [7] Kuo,IEEE Trans Reliab 2第145页–(1984) [8] Kuo,Proc IEEE 71 pp 1257–(1983) [9] Leemis,IIE Trans 22第172页–(1990) [10] Meeker,《国际统计》第61版,第147页——(1993年) [11] 《加速测试:统计模型、测试计划和数据分析》,威利,纽约,1990年。 [12] Nguyen,IIE Trans 14第167页–(1982)·网址:10.1080/05695558208974600 [13] 随机微分方程:应用简介,第5版,Springer-Verlag,柏林,1999年。 [14] Plesser,IEEE Trans Reliab R-26第195页–(1977年) [15] 赖斯,《生物计量学》,第35页,第451页–(1979年) [16] 曾,IEEE Trans Reliab R-46第130页–(1997) [17] Washburn,IEEE Trans Reliab R-19第134页–(1970) [18] Yu,Nav-Res Logistics 46 pp 699–(1999) 此参考列表基于出版商或数字数学图书馆提供的信息。其项与zbMATH标识符进行启发式匹配,可能包含数据转换错误。在某些情况下,zbMATH Open的数据对这些数据进行了补充/增强。这试图尽可能准确地反映原始论文中列出的参考文献,而不要求完整或完全匹配。