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高可靠性产品老化参数和剩余寿命的测定。 (英语) Zbl 1044.90022号

概要:今天,许多产品的设计和制造都是为了在出现故障之前长时间运行。对于高可靠性产品的制造商来说,确定产品可靠性是一个巨大的挑战,因为只有相对较短的时间可用于内部寿命测试。特别是,可能很难确定最佳老化参数和表征剩余寿命分布。一种有希望的替代方法是使用质量特性(QC)的数据,其随时间的退化可能与产品故障有关。通常,产品故障对应于超过临界值的退化路径的首次通过时间。如果退化路径可以正确建模,则可以预测故障时间并确定寿命分布,而无需实际观察故障。在本文中,我们首先使用维纳过程来描述产品质量特性的连续退化路径。维纳过程允许在不同时间点收集的数据之间存在非恒定方差和非零相关性。我们提出了一种将机组分为正常或弱的决策规则,并给出了确定老化试验最佳终止时间和其他参数的经济模型。接下来,我们提出了一种评估通过单元的产品寿命分布的方法。建议的方法都仅基于产品的初始观察降解数据。最后,用一个电子产品的例子,即接触式图像扫描仪(CIS)来说明所提出的程序。

MSC公司:

90B25型 运筹学中的可靠性、可用性、维护和检查
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全文: 内政部

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