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刘洪宇;Tsou，Chun-Hsiang先生;杨伟（Yang，Wei）

用单个部分边界测量研究光滑形状的Calderón逆夹杂问题。 （英语） Zbl 1467.35355号

反向问题。 37，第5号，文章ID 055005，18 p.（2021）.
本文讨论了在单一测量中检测恒定背景中夹杂物的问题。这篇文章概括了早期关于检测多边形夹杂物的工作[H.刘和C.-H.Tsou，反向探针。36，第8号，文章编号085010，23 p.（2020；Zbl 1445.35334号)]还允许检测具有高曲率边界点的夹杂物。结果是定性的唯一结果，但它在二维和三维都有效。
这个证明依赖于一些复杂的先验假设、复杂的几何光学解和独特的延拓论证。其中一个假设在数值上进行了论证，因为分析证明尚不清楚。
审核人：托米·布兰德（特隆赫姆）

引用于6文件

MSC公司：

35兰特 PDE的反问题
35J25型 二阶椭圆方程的边值问题
35B30码 PDE解对初始和/或边界数据和/或PDE参数的依赖性
2009年第35季度 输运方程
60年第35季度 与光学和电磁理论相关的PDE
35A02型 偏微分方程的唯一性问题：全局唯一性、局部唯一性、非唯一性

关键词：

电阻抗断层成像;导电夹杂物;光滑形状;高曲率;单部分边界测量;夹杂物检测;部分数据;单次测量;唯一延续

引文：

Zbl 1445.35334号

软件：

自由Fem++
PDF格式BibTeX公司 XML格式引用
\textit{H.Liu}等人，《反问题》。37，第5号，文章编号055005，18 p.（2021；Zbl 1467.35355）
全文： 内政部 arXiv公司

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