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约翰·鲍勒;Thánh、Nguyen Trung;保罗·萨克斯

根据表面电压测量值评估电导率和磁导率随深度的变化。 （英语） Zbl 1473.35535号

反向探测。科学。工程师。 29，第6号，831-860（2021）.
概述：根据导体电磁材料特性及其随位置变化的知识，可以预测导体表面交流电位降的测量值。在这里，我们考虑从多频电势降数据中发现材料特性随深度变化的反问题，这些数据是通过向导体中注入交流电产生的。使用四点探针进行测量。这个反问题的一个可能应用是确定钢表面硬化的深度依赖性。在本文中，我们定义了反问题的数学框架，并提出了求解该反问题的线性化方法。线性化是基于材料特性随深度变化很小的假设。利用仿真和实际实验数据对该算法进行了测试。

MSC公司：

35Q61问题 麦克斯韦方程组
35兰特 PDE的反问题
65兰特 积分方程反问题的数值方法
78A55型 光学和电磁理论的技术应用

关键词：

交流电位降;无损评价;铁磁性材料;反问题;线性化;数值重建

软件：

Matlab公司
PDF格式BibTeX公司 XML格式引用
\textit{J.Bowler}等人，《反问题》。科学。工程29，编号6，831--860（2021；Zbl 1473.35535）
全文： 内政部

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