O.G.Purtukhiya。;罗佐夫斯基，B.L。 二阶随机抛物型方程的测度值解。 （俄语） Zbl 0715.60073号 随机过程的统计和控制，收集。工艺。，莫斯科，177-179（1989）。 [关于整个系列，请参见Zbl 0688.00011号.]线性随机偏微分方程可测解的存在唯一性定理\[du=\sum^{d}_{i，j=1}\分数{\部分^2}{\部分xi\部分xj}（a{i，j}（t，x）u）-\和^{d}_{i=1}\分数{\部分}{\部分xi}（bi（t，x）u）+c（t，x）u+\]\[+\和^{d1}{j=1}（hj（t，x）u-\和^{d}_{i=1}\frac{\partial}{\paratilxi}（\sigma{i，j}（t，x）u））dwj（t）\]已被证明。这里，（w_j（t）），（j=1，…，d_1）是独立的Wiener过程。审核人：A.D.博里森科 MSC公司： 60甲15 随机偏微分方程（随机分析方面） 关键词：存在和唯一性定理;线性随机偏微分方程的可测值解;维纳过程 引文：Zbl 0688.00011号 PDF格式BibTeX公司 XML格式