利用透射和扫描透射电子显微镜（S/TEM）可以在纳米和中尺度上对材料进行三维（3D）表征。这些3D数据集需要先进的软件工具进行分析和可视化。Tomviz应用程序是为可视化电子断层扫描数据而定制的。它可以利用渲染、操作和分析海量3D断层图像所需的大量内存和处理资源。该平台提供了一个强大的图形界面，可以将对象渲染为着色轮廓或体积投影。可以组合使用多个数据集、颜色映射和其他可视化设置，这些对象可以旋转、切片、设置动画并保存为图像或视频文件。收集的数据可以通过直方图、多相关统计、多过滤器和用户自定义的Python脚本进行进一步分析。在Tomviz中也可以重建实验数据的层析成像。我们建议使用64位Windows、macOS或Linux操作系统，具有8GB以上的RAM和离散NVIDIA图形卡，以获得最佳性能。