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算法792

swMATH ID: 4774
软件作者: 罗伯特·伦卡(Robert J.Renka)。;罗恩·布朗
描述: 算法792:平面内散乱数据插值的ACM算法的精度测试。我们提供了已作为ACM算法发布的散射数据拟合方法的精度测试结果。这些算法包括七种基于三角剖分的方法和三种改进的Shepard方法,其中两种是新算法。我们的目的是双重的:指导潜在用户选择合适的算法,并提供测试套件以评估新方法(或本调查中未包括的现有方法)的准确性。我们的测试套件包括五组节点,节点数从25到100不等,以及10个测试功能。它们以三个Fortran子程序的形式提供:TESTDT返回一个节点集;TSTFN1返回测试函数之一的值和梯度值(可选);TSTFN2返回一个测试函数的值、第一部分和第二部分导数。
主页: http://dl.acm.org/ticitation.cfm?id=305745
编程语言: Fortran公司
关键词: Delaunay三角测量;插值;分散的数据;谢泼德法;曲面拟合;精度测试;算法
相关软件: Matlab公司;Sheppack公司;QSHEP2D项目;QSHEP3D公司;三角形;径向基函数qr;高斯QR;帕杜阿2DM;帕多瓦2D;超2d;LAF-SPEM公司;LS2Ditp公司;支票;XuPad2D;切布冯;CSHEP2D公司;SMAC公司;汽车-WEKA;伦敦银行支持向量机;可调性
引用于: 39文件

按年份列出的引文