spc4sts公司 swMATH编号： 31342 软件作者： Bui，Anh Tuan；丹尼尔·艾普利（Daniel W.Apley）。 描述： R包spc4sts:随机纹理曲面的统计过程控制。为随机纹理曲面提供统计过程控制工具。当前版本支持以下工具：（1）随机纹理曲面的通用建模。（2） Bui和Apley（2018a）提出的随机纹理表面局部缺陷监测与诊断（doi:10.1080/00401706.2017.1302362>）。（3） Bui和Apley（2018b）提出的随机纹理表面性质的全球变化监测（doi:10.1080/00224065.2018.1507559>）。（4） Bui和Apley（2019b）提出的随机纹理表面图像相异矩阵的计算<doi:10.1016/j.csda.2019.01.019>。 主页： https://cran.r-project.org/web/packages/spc4sts/index.html 源代码： https://github.com/cran/spc4sts 依赖项： R（右） 关键词： 尺寸缩减;Kullback-Leibler散度;第一阶段分析;流形学习;多维缩放;统计过程控制 相关软件： r零件;R（右） 引用于： 2文件 标准文章 1出版物描述软件，包括1出版物以zbMATH为单位 年份 一种探索性分析方法，用于理解随机纹理表面中的变化。 Zbl 1507.62019年Bui、Anh Tuan;丹尼尔·艾普利（Daniel W.Apley）。 2019 3位作者引用 1 丹尼尔·艾普利（Daniel W.Apley）。 1 Bui、Anh Tuan 1 康毅成 2篇连载文章中引用 1 海军研究后勤 1 计算统计与数据分析 在1个字段中引用 2 统计学（62-XX） 按年份列出的引文