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swMATH ID: 2145
软件作者: 缪勒·L、冈特拉姆·E。
描述: 对于最坏情况分析、蒙特卡罗分析、成品率优化和以设计为中心,电路仿真中器件模型参数的变化和相关性具有根本意义。本文描述了一种用于集成电路设计模拟的制造过程中固有波动的完整表征方法。由于电路设计与技术之间的复杂联系以及众多具有相关参数的设备,重点放在模拟仿真上;然而,数字仿真的统计要求可以完全涵盖。
这种特性适用于所有技术,无论是CMOS、BiCMOS还是双极型。电路模拟的前提是准确的标称器件模型参数和制造统计信息,例如过程控制监测测量。提出了一种计算关联系数的新方法。可以通过连接层次结构轻松定义相关参数。利用所提出的方法,可以从制造过程的估计或测量中生成仿真模型参数的变化和相关性。基于灵敏度分析,可以估计设计目标的变化和相关性。这使设计者能够进行电路分析和优化(极限参数、最坏情况下的距离)以及蒙特卡罗分析。
主页: http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/cta.4490230413/abstract
关键词: 电路仿真
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