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双ExpSeq

swMATH ID: 17050
软件作者: 肖恩·鲁迪
描述: R包DoubleExpSeq:通过离散参数的经验贝叶斯收缩对RNA-Seq数据进行差异外显子使用测试。RNA-Seq数据的差异外显子使用测试通过离散参数的经验贝叶斯收缩法,利用包含排除数据分析跨组跳过外显子的倾向。输入数据由两个矩阵组成,其中每行表示一个外显子,列表示生物样本。第一个矩阵是每个样本表达外显子的读取数。第二个矩阵是表示外显子或在样本中明确跳过外显子的读取次数的计数,即总计数矩阵。将这两个矩阵相除,得出表示每个样本的外显子表达倾向与跳过外显字的比例。
主页: https://cran.r-project.org/web/packages/DoubleExpSeq/index.html
源代码:  https://github.com/cran/DoubleExpSeq网站
依赖项: R(右)
相关软件: MOABS公司全球气候变化评估BaySeq公司拼接接头rSeqDiff(序列差异)EB序列顶帽DiffSplice(扩散拼接)Voom公司利马数据序列边缘R生物导体R(右)CRAN(起重机)
引用于: 1文件

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