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固化

swMATH ID: 13762
软件作者: K.J.Dana、B.Van-Ginneken、S.K.Nayar、J.J.Koenderink
描述: 库雷特:哥伦比亚-特雷赫特反射率和纹理数据库。3个数据库:1)BRDF(双向反射率分布函数)数据库,包含60多个不同样品的反射率测量,每个样品都有200多个不同的观察和照明方向组合。2) BRDF参数数据库,包含两个最新BRDF模型的拟合参数:Oren-Nayar模型和Koenderink等人的表示。这些BRDF参数可以直接用于图像分析和图像合成。3) BTF(双向纹理函数)数据库,包含来自60多个不同样本的图像纹理,每个样本都有200多个不同的观察和照明方向组合。每个数据库都公开用于研究目的。有关测量和装配程序的详细信息,请参阅技术报告和摘要文件。
主页: http://www1.cs.columbia.edu/CAVE/software/curet/
相关软件: Outex公司;SIFT公司;电磁流量计;伦敦银行支持向量机;PASCAL挥发性有机化合物;BSDS公司;PCANet公司;ImageNet公司;AlexNet公司;PCA-SIFT公司;KTH-提示;线圈100;抓斗切割;简单性;VisTex公司;CTex公司;韦卡;基马提奥;github;多元统计.jl
引用于: 31文件
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86位作者引用

2 埃克伦德,一月至十月
1 爱德华·阿德尔森。
1 卡洛斯·阿尔贝罗拉·洛佩斯
1 阿佐林·洛佩斯(Jorge Azorín López)
1 斯维特拉娜·巴尔斯基
1 尼扎尔·布吉拉
1 杰·布什
1 巴巴拉·卡普托
1 甘纳·E·卡尔森。
1 Chak,Wai Ho公司
1 阿卜杜拉赫·查莱查尔
1 阿诺普·切里安
1 池建宁
1 卡尔伯特森(W.Bruce Culbertson)
1 苏克亨德·达斯
1 罗德里戈,路易斯·加西亚
1 Paul Debevec
1 拉希德·德里奇
1 Jean-Michel Dischler公司
1 马里奥·弗里茨
1 安德烈斯·福斯特·吉尔洛
1 格雷厄姆·费夫
1 加西亚·沙米佐(García Chamizo)、胡安·曼努埃尔(Juan Manuel)
1 Ghazanfarpour博士。
1 阿比吉特·戈什
1 保罗·格雷厄姆。
1 T·格雷纳。
1 吉安·格里姆
1 迈克尔·D·格罗斯伯格。
1 桂伟华
1 郭振华
1 埃夫斯塔提奥斯·哈吉德梅特里奥
1 米查尔·海德尔
1 埃德温·罗伯特·汉考克
1 沃伊特·哈夫利切克
1 埃里克·海曼
1 何杰洲
1 伊利亚,达纳·E。
1 杰森·劳伦斯
1 Hendrik P.A.Lensch。
1 托马斯·梁
1 托尼·林德伯格
1 刘策
1 刘金平
1 马西亚·佩雷斯,弗朗西斯科
1 梅恩帕德,托皮
1 吉坦德拉·库马尔·马利克
1 托马斯·马尔兹本德
1 梅里卢,S。
1 Shree K.纳亚尔。
1 彼得·尼利乌斯
1 托米·努美拉
1 古斯塔沃·帕托
1 何塞·佩雷亚。
1 玛丽亚·彼得鲁
1 马蒂·皮提卡·伊南
1 泽维尔·普约
1 侯赛因·拉盖布
1 希瓦尼·拉奥(Shivani G.Rao)。
1 露丝·罗森霍兹
1 Szymon Rusinkiewicz公司
1 直子斋藤
1 拉瓦尼亚·沙兰
1 格雷戈里·斯拉堡。
1 苏夫里特·斯拉
1 拉兹洛·斯齐尔梅·卡洛斯
1 穆罕默德·塔巴塔贝
1 唐朝晖
1 博罗姆通瓦塔纳蓬
1 马库斯·图廷
1 塔马斯·乌门霍夫
1 Luc J.Van Gool。
1 马尼克·瓦尔马
1 蒂姆·韦里奇
1 保罗·惠兰(Paul F.Whelan)。
1 徐鹏飞
1 于晓生
1 于雪明
1 阿列克谢·扎勒斯尼
1 大卫·D·张。
1 张磊
1 张武侠
1 张一飞
1 赵秦平
1 托德·齐克勒(Todd E.Zickler)。
1 安德鲁·齐瑟曼

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