能量耗散

试样及其悬浮液中的能量耗散导致连续“扭转”幅度减小,而重量的质量(更准确地说,是摆锤的惯性矩)和试样(或悬浮液)的弹性决定了扭转振动的频率。

发件人: 油漆和表面涂层(第二版),1999

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金属纳米粒子和纳米合金

罗伊·L·。约翰斯顿,英寸 纳米科学前沿, 2012

3.5.6 电子能量损失光谱学

电子能量损失谱(EELS)涉及对单色电子束与表面支撑的MNP相互作用产生的非弹性散射电子的能量分析。电子能量损失是由于各种内能模式的激发引起的,通常是电子模式(ΔE类UV-vis区域)和振动(IR区域)-在MNP或MNP表面的分子吸附质中。例如,EELS可用于测量支撑MNP的表面等离子体光谱和MNP上吸附CO的振动光谱。EELS的高空间分辨率可用于绘制MNP上的表面等离子体,这对NAs特别有用,因为NAs的组成可能在颗粒上变化。高分辨率EELS(HREELS)是EELS的变体,能量分辨率为5-10 meV范围。

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网址:https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/B9780080963570000066

宏观粗糙度条件下水流引起河床变形的试验研究

拉瓦特·维沙尔辛格,Thendiyath公司罗西妮,英寸 水利工程建模和数学工具,2021年

15.3.4 能量耗散

能量耗散Pagliara和Chiavaccini检查了带有床料的过街匝道[11],而Pagliara和Chiavacini[9]观察了加筋砌块坡道对能量耗散分布的影响。此前已针对不同的流动条件对砌块坡道上的能量耗散进行了研究。佩鲁吉内利和帕利亚拉[12]在撇渣流条件下进行了相同的研究,而Pagliara等人。[13]进行了淹没水流条件下的消能试验。Ahmad和Srisvastava(2014)还研究了巨石交错排列引起的能量耗散。

Pagliara等人。[14]对0.18≤范围内的斜坡进行了试验运行S公司≤0.38至0.03c(c)/H(H)<0.54,对于坡道长度L(左)第页1.17之间 m≤L(左)第页≤3.6 m.研究了不同基材的两相流的能量耗散特性。此外,耗散过程也是在存在加固巨砾的情况下进行评估。结果表明,对于特定边坡和基层材料,能量损失随漂石浓度的增加而增加。

在本研究中,测量了整个坡道(0段和1段之间)的能量耗散。能量头(E类0,E类1)对所有两个截面进行了计算,并绘制了它们各自的能量差(c(c)/H(H))、和如所示图15.6观察到,能量损失随着斜坡坡度和临界深度的增加而增加(c(c)/H(H)).

图15.6.相对能量耗散的变化c(c)/H(H)斜坡(A)BM1和(B)BM2.

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网址:https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/B9780128206447000062

超导材料:辐照效应

W.K.公司。, ...L。奇瓦莱,英寸 材料百科全书:科学与技术, 2001

1 能量损失和缺陷形成

能量损失是离子-固体相互作用中最重要的因素,因为它是衡量粒子在材料中沉积能量的能力。能量损失是一种物质特性,是质量、原子序数和粒子能量的函数。图1显示了典型高温超导体(HTS)中各种离子的电子和核能损失的能量依赖性,即YBa2O(运行)7氢、氦、溴、锡和金的离子用于说明。

图1.不同能量损失区域的缺陷形成及其对入射粒子能量的依赖性。有关详细信息,请参阅文本。

能量损失以keVnm为单位−1离子能量由抛射体的质量数归一化。下标“n”和“e”分别表示HTS中给定离子的核能和电子能损失。图1有三条直线,表示不同重要区域的近似边界。斜线的左上方区域是核能损失大于电子能量损失的区域。在这个区域,抛射体的能量通过碰撞转移到材料上,使目标原子移位,从而产生点缺陷。当反冲原子的能量足够高时,这些反冲原子随后会撞击其他原子,形成碰撞级联。

在较高的离子能量下(穿过倾斜的直线图1),能量损失主要由靶材料的电子电离和激发引起的稀释缺陷形成,对超导体的性能影响很小。然而,对于GeV能量的重离子,当电子能量损失接近最大值时,高条纹多电荷重离子可以与大量目标电子相互作用并使其运动。由于热尖峰,小区域内的这种密集电离将留下高密度的原子紊乱(Szenes 1996年)。电子能量损失高于11keVnm−1在YBCO中(标记为水平虚线图1)高密度原子无序的局部缺陷可能沿快离子轨道形成滴状和不连续的柱状缺陷。超过28keVnm之间的临界电子能量损失−1和35keVnm−1(标记为水平直线图1),沿离子路径产生直径为几纳米的完全连续的非晶轨道(惠勒. 1993)。这些缺陷将对超导电性产生不同的影响。在我们将缺陷结构与超导体特性联系起来之前,我们需要了解II型超导体的磁性。

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网址:https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/B0080431526016107

透射电子显微镜

M。鲁赫勒,M。威尔肯斯,英寸 物理冶金(第四版), 1996

10.3.1. 示例

EELS主要用于陶瓷样品,因为它是测定轻元素分布的唯一技术;示例如所示图34,如下所示。可以用化学方法检测和分析颗粒边界相(盖斯[1981],RüHLE和Petzow[1981])。离子注入有时被用来将轻元素掺杂引入半导体。EELS可用于测量局部掺杂剂浓度,如果后者超过−0.1%(Joy和Maher[1980])。轻元素以氮化物或碳化物沉淀物的形式出现在某些金属样品中;这些材料也通过EELS技术进行了分析(罗索等。[1976],盖斯[1981]).

图34.氮化硅陶瓷中25 nm厚非晶区的电子能量损失谱。谱中的边缘位于特征能量损失处。不同元素的浓度可以从阴影区域确定:a)能量损失250–850 eV。b)能量损失1350–1950 eV。

(来自比肖夫[1983].)版权所有©1983
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网址:https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/B9780444898753500168

IGBT结构设计

B.贾扬特巴利加,英寸 IGBT器件(第二版), 2023

3.3.5 关断功率损耗

关闭过程第一阶段每周期的能量损失(E类V、 关闭)对于非对称IGBT结构,可以使用公式(3.41)因为不对称IGBT的关断电压波形与对称IGBT结构类似。非对称IGBT电流瞬态期间的能量损失可以通过以下公式计算[12]:

(3.70)E类,关闭=J型C,打开反恐精英τ第页0,N个缓冲器

每个循环的总能量损失(E类关闭)由这两项相加得到(E类V、 关闭E类一、 关闭).

3000的情况下每个循环的能量损失 V非对称IGBT结构N个-宽度为280的基区 μm,掺杂浓度为1.0 × 1013 厘米 ,缓冲层厚度为10 μm,掺杂浓度为1.0 × 1017 厘米 在集电极电流密度为100 A/cm的情况下,可以使用上述分析模型获得2集电极供电电压为2000 V.高水平寿命值从1到100的计算结果 μs在中提供图3.31.对于高级别寿命的最低值2 μs时,电压瞬变过程中的能量损失为62 毫焦耳/厘米2而电流瞬变过程中的能量损失为67 毫焦耳/厘米2电压瞬变期间的能量损失逐渐增加至141 毫焦耳/厘米2当高级寿命增加到100 μs。相反,电流瞬态期间的能量损失急剧增加至3480 毫焦耳/厘米2当高级寿命增加到100 μs。关断瞬态的总能量损失主要由电流瞬态期间的能量损失决定。高级寿命必须保持在10以下 μs,将总能量损失限制在0.5以下 焦耳/厘米2。非对称IGBT结构的每周期能量损失远小于对称IGBT结构的能量损失(参见图3.11).

图3.31

图3.31.非对称3000关闭瞬态期间的能量损失 V IGBT结构:寿命依赖性。

3000的每周期能量损失 通过改变缓冲层掺杂浓度可以控制V非对称IGBT结构。在集电极电流密度为100 A/cm的情况下,使用上述分析模型获得的能量损失2集电极供电电压为2000 V如所示图3.32对于高级寿命为5的情况 漂移区为μs,缓冲层厚度为10 微米。缓冲层掺杂水平低于1 × 1017 厘米 发现电流瞬变过程中的能量损失占主导地位。缓冲层掺杂水平高于1 × 1017 厘米 发现电压和电流瞬态期间的能量损失相等。能量损失随缓冲层掺杂浓度的增加而单调减小,为优化非对称IGBT结构提供了良好的设计变量。

图3.32

图3.32.非对称3000关闭瞬态期间的能量损失 V IGBT结构:缓冲层掺杂依赖性。

3000以上的每周期能量损失 V不对称IGBT结构如所示图3.33作为漂移区中高电平寿命的各种值的缓冲层掺杂浓度的函数。在集电极电流密度为100 A/cm的情况下,使用上述分析模型计算能量损失2集电极供电电压为2000 在所有情况下,能量损失都随着缓冲层掺杂浓度的增加而单调减小。从这些图中可以看出,通过使用漂移区高能级寿命和缓冲层掺杂浓度的最佳组合,可以优化不对称IGBT的设计。

图3.33

图3.33.非对称3000关闭瞬态期间的能量损失 V IGBT结构:缓冲层掺杂和漂移区寿命相关。

3000的每周期能量损失 V非对称IGBT结构也可以通过改变缓冲层厚度来控制。在集电极电流密度为100 A/cm的情况下,使用上述分析模型获得的能量损失2集电极供电电压为2000 V如所示图3.34当使用缓冲层掺杂浓度为1时,漂移区中的各种高能级寿命值 × 1017 厘米 对于高水平寿命的每个值,能量损失都随着缓冲层厚度的增加而减少。随着缓冲层厚度的增加,能量损失逐渐单调减少,允许使用缓冲层厚度作为设计参数来控制能量损失。

图3.34

图3.34.非对称3000关闭瞬态期间的能量损失 V IGBT结构:缓冲层厚度依赖性。

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网址:https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/B9780323999120000222

电子能量损失谱及其在碳材料表征中的应用

久子平井一夫,英寸 碳合金, 2003

摘要

电子能量损失谱(EELS)是对薄样品由于非弹性相互作用而产生的电子能量分布的分析。EELS光谱包含了大量关于样品原子的信息,不仅是关于它们的化学性质,还包括它们的电子结构、键合状态、最近邻分布、配位数、介电常数和带隙。根据能量损失,在不同的能量区域可以观察到这些特征。简要介绍了EELS和仪器的基本原理,并解释了从EELS光谱获得原子和电子特性的程序。EELS分析用于表征一种新形式的非晶金刚石,其服务提供商分数、带隙、带间跃迁和态密度。分析表明,非晶金刚石的成分几乎为100%服务提供商-与其他高度粘结碳相比,粘结碳更接近结晶金刚石服务提供商-粘结的非晶碳。

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网址:https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/B9780080441634500152

利用电子束技术表征纳米结构

J。里奇斯,J。德莱南,英寸 材料的纳米结构控制, 2006

3.3.2 电子能量损失光谱学

EELS与EDS的不同之处在于,检测到的信号是前向散射电子。这些电子被样品非弹性散射,其能量可以达到入射电子的能量。可以检测到的散射事件包括原子电离,也包括样品中等离子体或声子振荡的产生。检查与各种元素电离相对应的能量可以提供有关元素组成的信息,这可以为EDS调查提供类似的信息,尽管这两种技术在这个意义上往往是互补的,因为EELS在检测轻元素方面优于EDS。除了获得成分信息外,还可以从这些电离峰的近边缘结构获得化学键信息。最后,能量损失谱的低损失区域可以用于获取材料中费米能级附近电子态的信息。

与EDS的情况类似,FEG电子源的引入以及它们可以产生的更小的电子探针尺寸,使得研究人员能够研究各种纳米材料的组成和化学结构。这可以从结构的确定中看出16和电子17用EELS对碳纳米管的表面等离子体模式进行检测。在TEM中对这种纳米分析技术的有用概述中给出了其他例子。18

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网址:https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/B9781855739338500038

无源元件

彼得威尔逊,英寸 电路设计师指南(第四版), 2017

3.1.4 电源

当然,功耗是设计师必须检查每个组件的最重要规范之一。功率耗散会导致温度升高,这取决于热量从身体传导的速度。最高体温通常出现在电阻器的中间,这就是所谓的热点温度。长时间的高温(请记住,所引用的热点温度必须添加到最大环境温度)会导致两件事:不仅电阻器的可靠性降低,而且电阻器附近的部件也会降低,电阻也会发生变化。

可靠电路的一个很好的经验法则是,每个元件的功耗不得超过额定功率的一半;许多公司都有基于经验或客户规范的内部规则。

应在最坏的操作条件下计算功率:例如,电阻器可以放置在标称12 V供电轨,在极端条件下可能达到17 五、功耗差异几乎是原来的两倍。

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网址:https://www.sciencedirect.com/science/article/pi/B9780081017647000037网址

聚合物基复合材料(PMC)在汽车和运输应用中的失效

P.K.公司。马利克,英寸 聚合物基复合材料的失效机理, 2012

12.6.2 能量耗散机制

能量耗散在聚合物基复合管的破碎实验中,通过几种微失效机制进行,包括横向基体开裂、横向基体破碎、纤维断裂、纤维屈曲和纤维方向的基体破碎、分层和纤维-基体界面脱粘。其中一些微失效模式会产生碎片,堆积在分层层之间,并通过摩擦成为能量耗散的额外来源。在破碎试验期间发生的事件中,观察到了张开失效模式,包括以下事件:

1

破碎引发器破碎导致碎屑楔的形成(例如斜边)

2

碎片楔顶点I型开口裂纹的扩展

三。

楔形物小曲率半径区域叶片的广泛分层

4

通过单个层的多个横向裂纹引起的弯曲损伤

5

叶片间轴向分裂的传播

6

叶片各层的多重纵向裂纹

7

碎屑楔在内外叶之间穿透产生的摩擦阻力

8

通过破碎区偏转弧时相邻层之间的摩擦

9

叶片和加载压板之间的摩擦。

据估计,近一半的能量耗散是由于叶片和加载装置之间的摩擦引起的。由于叶片的弯曲,也会消耗大量能量(马马利斯., 1997)。分层层之间的摩擦也是破碎过程中能量耗散的来源。

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网址:https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/B9781845697501500124

透射电子显微镜

美国。阿梅林克斯,J。范·兰杜特,英寸 物理科学与技术百科全书(第三版), 2003

第二十二条。A类 能量损失光谱和成像

能量损失是元素的特征,若能通过对透射电子的能量分析检测到,那个么元素分析就成为可能。然而,这仅适用于足够薄的试样,其中其他能量损失过程不会压倒特征光谱。等离子体的能量范围为10-20 eV,而声子能量是10级 百万伏特。因此,单个量子化等离子体子比声子更容易检测。由于等离激元损失峰的位置是材料的特征,因此它们可以用作铝和镁的分析工具。

然而,对于化学分析,EELS曲线中的吸收边更为重要;它们反映了导致X射线产生的吸收现象,并在高能侧显示出精细结构。这种精细结构被称为EXELFS(扩展能量损失精细结构),是EXAFS(扩展X射线吸收精细结构)的类似物。吸收边缘低能侧的急剧上升是由于内壳层电子的激发,是该元素的特征。

精细结构是由来自内壳层的电子波产生的,该内壳层部分被周围原子反向反射,从而导致内壳层电子激发概率的调制。因此,这种精细结构不仅可以提供关于吸收原子的化学性质的信息,还可以提供关于最近邻居的数量及其距离的信息。电子束与TiC样品相互作用后能量损失分析的典型光谱如所示图36.

图36.能量损失谱示例。电子的强度与能量损失(单位为eV)相对应。元素C和Ti的特征峰在300-500-eV能量损失范围内明显不同。

目前,利用楔形磁铁的色散来分析特征损耗。对于电子损失光谱的后一种应用,尤其是一次电子源的亮度非常重要,因为只有与损失峰相对应的窄带被过滤并用于成像。然后,狭缝滤波的特征损耗光束进入四极透镜配置,允许HREM成像,从而实现与特定元素存在相关的亚纳米级成像。实验装置(Gatan成像滤波器)的方案如所示图37.

图37.成像滤光片(GIF)作为电子显微镜的附件。它产生能量过滤电子图像和衍射图案,也称为电子光谱图像和衍射图形。它还产生电子能量损失谱。

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网址:https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/B012274105007894