台式扫描电子显微镜

美国热菲舍尔科学公司制造的桌上扫描型电子显微镜,可以进行高画质的SEM图像观察和高度的图像解析。第一次使用SEM的人也容易理解简单地能操作。可以一边观察用光学显微镜拍摄的样品整体的图像,一边确认SEM的观察位置。

  • 通过简单的操作快速观察
  • 用丰富多彩的软件分析得到的SEM像

ProX

标准搭载元素分析功能的高分辨率模型

  • 倍率:80~150000倍
  • 光学显微镜
    (颜色,20~135倍)
  • 元素分析:标准搭载
  • CeB6个电子枪的高画质观察
  • 辅助电子:选项

Pro

具有丰富扩展性的高分辨率模型

  • 倍率:80~150000倍
  • 带光学显微镜(彩色,20~135倍)
  • 元素分析:选项
  • CeB6个电子枪的高画质观察
  • 辅助电子:选项

Pure

导入电子显微镜的最佳入口模型

  • 倍率:70-3000倍
  • 带光学显微镜(黑白,20倍)
  • 与上位机种相同的CeB6个电子枪

XL

采用大试料室的模型

  • 倍率:80~100000倍
  • 带光学显微镜(彩色,3~16倍)
  • 最多可设置100×100mm的试料
  • SEM可观察范围:50×50mm
    (可选扩展到100×100mm)
  • 元素分析:选项
  • CeB6个电子枪
  • 辅助电子:选项

Phenom Pharos

用FE电子枪实现超高画质

  • 最高倍率:100万倍
  • 通过光学显微镜确认视野
  • 元素分析:选项
  • 电子枪
  • 辅助电子:选项

专用系统

专用于特定应用程序的专用系统。
有材料自动评价系统、清洁度自动检测系统、射击残渣(GSR)自动分析系统。
高亮度、超寿命的CeB6个正因为采用了电子枪的Phenom,长期稳定的测量可能。

新建
Phenom ParticleX AM

颗粒材料的自动评价系统
自动快速评估颗粒材料的特性。
粒子均匀性、异形、异物粒子的确认等
可用于辅助制造的质量管理。

  • 基于SEM/EDS的自动解析
  • 从粒子的检测到尺寸、形状分析
    完全自动化到元素分析
  • 使粒子尺寸、形状参数
    按化学组成分类
  • 用户指定的
    格式报告

新建
Phenom ParticleX TC

清洁度的自动检查系统
自动分析附着在制造部件上的微米级异物。
可以在短时间内迅速进行清洁度的管理和异物源的确定。

  • 基于SEM/EDS的自动解析
  • 从异物检测到尺寸、形状分析
    完全自动化到元素分析
  • 将异物设为尺寸、形状参数
    按化学组成分类
  • 符合ISO16232/VDA19
    报告

新建
Phenom GSR

射击残渣(GSR)的自动分析系统
这是世界上第一个基于台式SEM的自动GSR分析系统。
可根据ASTM1588-17进行高精度分析。

  • GSR粒子的自动检测
    可分类、报告
  • 向导直观
  • 搭载大试样室
    有多种法医应用




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