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发展了评估多面凸晶体散射过程中吸收的精确分析方法,该方法允许高效计算。本文给出了一种快速准确的算法来求出豪威尔斯多面体,其确定是解析法的基础。该算法允许在样本仅被部分照亮的情况下进行评估,可适用于更一般的情况,并可用于生成计算中误差的估计值。在大多数情况下,这是1014的一部分。标准测试的结果比以前提供的精度更高,并给出了圆柱体和球体的多面近似结果,以说明该方法的威力。

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对凸多面体晶体中吸收校正因子的估算进行了数学分析。给出的公式允许准确评估因子及其导数,并且不依赖于将晶体细分为四面体。还描述了将豪威尔斯多面体定义为一组平面的包含体积的新方法。该方法允许引入附加约束,可用于处理晶体或入射光束中的不均匀性。基于这些思想的计算可以快速准确地评估吸收校正因子及其导数,舍入误差问题可以忽略不计。此外,还给出了一个由具有广泛取向的一般四面体散射的公式,可用于计算机程序的测试。

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提出了一种用于X射线晶体学分析吸收校正的基于层析的射线追踪方法。来自长波长高分子晶体学实验的几个例子证明了这种新方法的有效性。

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吸收校正A类*对于0≤μ的扩展范围内的圆柱形和球形样品R(右)≤30和0≤θ≤90°,并采用Thorkildsen和Larsen分析方法进行高精度计算。

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X射线辐照剂量的计算是从第一原理发展而来的。对于依赖于光子能量和时间的吸收,以及依赖于时间的样品质量,公式化了剂量积分。评估了精确、近似和渐近表达式,并将其应用于扫描透射软X射线显微镜辐射损伤实验。

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本研究提出了X射线吸收光谱(XAS)的迭代布拉格峰消除和自动强度校正(IBR-AIC),这是一种针对晶体材料分析中布拉格峰干扰的新方法。将实验技术与复杂的后处理相结合,包括缩放吸收系数的迭代算法和消除布拉格峰,这种方法在提高这些材料的XAS数据质量方面显示出巨大的前景。

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给出了充分利用径向对称性来简化距离计算的圆柱吸收校正的数值评估方法。对所得数据的分析表明,当强吸收样品被稀释为F类= (4/3)μR(右)在最大半径毛细管中(μ是样品的线性吸收系数R(右)是毛细管半径)。

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研究了圆柱体吸收修正计算的效率。将高斯-勒让德求积应用于托基尔森和拉森提出的公式,得到的结果相对误差≤10−6带12个×数值积分中的12项。

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在布拉格衍射几何中,从理论上分析了微缺陷对X射线相干散射和漫散射积分强度中初级消光和反常吸收的动力学效应的影响。

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提出了两种用平面复合折射透镜(PCRLs)模拟同步辐射纳米聚焦的新方法。这些方法是基于分析理论的结果。一个新特性是可以考虑PCRL孔径。阐述了一个通用的计算机程序,并获得了具体的结果。

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