多面晶体的吸收校正因子

R.C.克拉克

对凸多面体晶体中吸收校正因子的估算进行了数学分析。给出的公式允许准确评估因子及其导数，并且不依赖于将晶体细分为四面体。还描述了将豪威尔斯多面体定义为一组平面的包含体积的新方法。该方法允许引入附加约束，可用于处理晶体或入射光束中的不均匀性。基于这些思想的计算可以快速准确地评估吸收校正因子及其导数，舍入误差问题可以忽略不计。此外，还给出了一个由具有广泛取向的一般四面体散射的公式，可用于计算机程序的测试。

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具有自动强度校正的X射线吸收光谱迭代布拉格峰消除

R.Shimogawa先生,N.马塞拉,C.R.奥康纳,T.-S.金,C.里斯,I.卢博米尔斯基和A.I.Frenkel公司

本研究提出了X射线吸收光谱（XAS）的迭代布拉格峰消除和自动强度校正（IBR-AIC），这是一种针对晶体材料分析中布拉格峰干扰的新方法。将实验技术与复杂的后处理相结合，包括缩放吸收系数的迭代算法和消除布拉格峰，这种方法在提高这些材料的XAS数据质量方面显示出巨大的前景。

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基于层析重建的X射线晶体追踪分析吸收校正

Y.Lu先生,R.杜曼,J.拜尔斯滕·埃德曼德,G.冬季,M.巴沙姆,G.埃文斯,J.J.A.G.坎普斯,A.M.奥维尔,H.-S.Kwong先生,K.Beis公司,W.铠装和A.瓦格纳

提出了一种用于X射线晶体学分析吸收校正的基于层析的射线追踪方法。来自长波长高分子晶体学实验的几个例子证明了这种新方法的有效性。

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使用二维面积检测器的无限长圆柱形样品吸收因子的空间分布

苏利亚诺夫,A.戈金和H.博伊森

提出了一种利用二维面积粉末图案配准计算无限长圆柱传输德拜-谢尔几何吸收因子的方法和软件。

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吸收校正A类*适用于通过Thorkildsen和Larsen分析方法计算的大范围和高精度的圆柱形和球形样品

H.-C.Hu公司,C.杨和K.赵

吸收校正A类*对于0≤μ的扩展范围内的圆柱形和球形样品R（右）≤30和0≤θ≤90°，并采用Thorkildsen和Larsen分析方法进行高精度计算。

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晶格移位缺陷的视紫红质系列衍射强度校正

M.J.罗德里格斯,C.M.卡萨迪,T.韦内特,V.Panneels公司和G.F.X.舍特勒

对晶格移位缺陷的串行晶体学衍射强度进行校正，可以解释时间分辨的串行飞秒晶体学数据，以探测脊椎动物视觉中的第一个分子运动。

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单晶结构测定中反常色散校正参数的改进

F.梅勒,O.V.多洛曼诺夫,C.海宁,N.佩耶里姆霍夫,F.克莱米斯,H.普希曼和博登斯泰纳

精确的异常色散值提供了一种简单可靠的方法来校正每个结构所特有的电子环境的非弹性散射效应。在这里，我们将在有机发光二极管2并讨论其用法和前景。

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XABS公司2：经验吸收修正程序

S.帕金,B.莫兹和H.希望

本文描述了一种经验后吸收校正算法。只有F_{光突发事件}需要结构参数（各向同性水平）。

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多层样品荧光扩展X射线吸收精细结构自吸收效应的校正方法

W.-B.李,X.-Y.杨,朱振堂（J.-T.Zhu）,Y.-C.Tu先生,B.-Z.Mu公司,H.-S.余,X.-J.魏,Y.-Y.黄和Z.-S.王

提出了一种新的方法来校正单层或多层样品在荧光模式下测量的扩展X射线吸收精细结构的自吸收效应。通过在不同实验几何形状下测量的Cr/C多层膜的校正光谱，验证了该方法的有效性。

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多面晶体吸收的解析计算

R.C.克拉克和J.S.里德

发展了评估多面凸晶体散射过程中吸收的精确分析方法，该方法允许高效计算。本文给出了一种快速准确的算法来求出豪威尔斯多面体，其确定是解析法的基础。该算法允许在样本仅被部分照亮的情况下进行评估，可适用于更一般的情况，并可用于生成计算中误差的估计值。在大多数情况下，这是1014的一部分。标准测试的结果比以前提供的精度更高，并给出了圆柱体和球体的多面近似结果，以说明该方法的威力。

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