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发现Weitkamp,T的12条引文。

搜索魏特坎普,T。世界结晶学家名录

结果1到12,按名称排序:


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使用双光栅干涉仪测量同步辐射光束线的不同光学元件(如单色器和反射镜)后的复相干函数和波前分析。

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对最近提出的三种快速定量在线X射线成像方法进行了分析,并在使用同步辐射收集的模型样品的图像上进行了测试。

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将肿瘤血管树上一组多尺度测量的局部层析成像数据与全局数据进行定量比较,并使用算法匹配重建的吸收系数。研究表明,局部和全局数据之间吸收系数的系统差异不仅来自截断投影,而且在更大程度上来自所用探测器的光学组件。

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使用能量分辨率约为200eV的能量色散探测器,利用入射的白色同步辐射实现并研究了两种类型的硬X射线干涉仪。在这两种干涉仪中,都使用含有小针孔的薄钽箔作为分束器。

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具有不同成分(W/Si、Mo/Si、Pd/B4C)、周期性(2.5至5.5 nm)和层数的多层膜已根据其作为同步电子硬X射线显微成像单色器的性能进行了表征。

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报道了硅双晶单色器在摇摆源热负荷作用下变形的定量测量。变形是使用二维硬X射线光栅干涉测量法测量的,该技术使就地高角度灵敏度的at-wavelength波前研究。

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《水晶学报》。(2002).A类58,c51号机组
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提出了一种深度学习处理方法,用于评估Zernike纳米计算机断层扫描成像骨中三维微观和纳米孔隙度。

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ANKA阶段是一个计算机程序,通过重建成像对象的投影厚度来处理X射线内联相控射线照片。该程序使用帕格尼在一篇论文中描述的单距离非迭代相位检索算法等。[(2002),《微生物学杂志》。 206,33-40]。

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提出了一种简单可靠的表征双面硬X射线菲涅耳波带片的方法。测量是在基于X射线管的装置中进行的,其中通过使用铜和镍过滤器的差分测量隔离近单色光谱。

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