通过测量劳厄情况下的积分强度作为X射线波长的函数，研究了晶体缺陷对动态衍射的影响。二氧化硅2-通过1223加热，在直拉硅单晶中引入了沉淀微缺陷 K，五个不同的时间段，从25到145不等 h.使用能量色散衍射法在0.15至0.78波长范围内测量X射线强度 Å. 测量结果表明，积分强度和彭德尔松随着加热周期的增加，拍频间隔伴随着拍频幅度的减小。这些数据与使用加藤理论获得的数据进行了定量比较[《水晶学报》。（1980），A36763–769、770–778]和Becker&Al Haddad[《水晶学报》。（1992年），A48, 121–134). 前一种理论，其中相关长度Γ对于波场振幅假设接近消光距离，没有描述数据。后一种理论只适用于加热25℃的试样 h.模型假设Γ与波长无关，并随晶体的完善程度而变化，提出了反射面来代替加藤的假设。模型的应用使所研究的样本取得了很好的一致性。的最佳拟合值Γ，从0.07到1.6 μm，与相位因子的相关长度大致相同，从0.04到2.6 微米。
