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Phillips,J.C.的7条引文。

菲利普斯·J·克利克有16篇文章在这里来看看这些。

搜索菲利普斯,J.C。世界结晶学家名录

结果1到7,按名称排序:


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斯坦福直线加速器中心SPEAR储存环产生的同步辐射X射线束已被用作单晶-蛋白质衍射实验的可调强光源。对聚焦的单色X射线束的绝对强度的测量值为3×109光子-1在典型机器操作条件下,波长为1.74º。一系列香港为了研究反常散射效应并研究其在相位测定中的应用,从含铁蛋白红蛋白晶体上获得了0进动照片。使用了七个离散波长的辐射,有些在Fe之上,有些在Fe之下K(K)吸收边(1.743?=7.111 keV)。红曲霉毒素衍射数据显示(f)“随波长和Bijvoet差异而变化。根据以下任一条件,可以从不同的Patterson和Fourier图中正确定位Fe位置(f)'或(f)”. 通过计算组合(f)'和(f)“地图。布拉格反射的相位也从三个不同波长的薄膜上获得。与rubredoxin的已知相比较,差异平均为60°,这表明即使从相对较差的数据中也可以获得一些相信息,并且该方法在未来的应用中可能有用。附录中描述了一种计算Lp系数的方法,该系数必须应用于用极化同步辐射X射线束拍摄的进动照片。

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Enraf-Nonius CAD-4衍射仪经过专门改装,安装在计算机自动对准托架上,用于SSRL的同步辐射X射线源。使用了分离功能聚焦单色仪系统[Hastings,Kincaid&Eisenberger(1978)]。编号。仪器。方法,152,167–171]以提供可从3–9 keV快速调谐的辐射。开发了用于波长校准和监测储存光束衰减的测角仪自动对准软件。积分反射强度是使用细焦点X射线管(镍过滤铜)记录的相同反射的40倍, 40千伏,30mA),对于3.7的SPEAR条件GeV和20mA,带有碰撞光束。对于镶嵌分布较低的晶体,反射宽度约为0.015°。对于这种窄反射,积分强度的测量精度可达2.7%。对于较宽的反射,已获得2.1%的精度。通过比较同步辐射和密封管源收集的数据,得出了R(右)-系数基于F类1.8%。因此,很容易从同步辐射数据中获得准确的结构因子。高度镶嵌单色器晶体的使用导致了强度增加,但牺牲了更宽的扫描宽度。该仪器可以在靠近吸收边缘的地方进行反常散射实验,从弱衍射样品中快速收集数据,并可能提高低镶嵌性样品的信噪比。

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最近使用同步辐射测量波长非常接近的反常散射项的实验L(左)-壳元素吸收边[Phillips,Templeton,Templeton&Hodgson(1978)。科学类,201,257-259]已经证明,观察到的影响远大于基于简单原子散射计算的预期影响。反常散射项的大小与波长的相关性很大,这些观察促使我们重新研究如何利用这些效应来确定单晶衍射图案的相位。本文描述了一种利用反常散射效应大小的信息来计划含大分子晶体的多波长相位实验的方法。对不同的数据收集策略进行了比较,例如在多个波长上测量数据的精确度较低,或在几个波长上测量的准确性较低。该方法使用标准MIR相位技术中的原理,也可用于处理多波长数据以获得相位。给出了一个利用实验测得的铯反常散射曲线进行定相的数值例子,并根据多波长定相在蛋白质晶体研究中的适用性讨论了结果。对多种重金属的调查表明L(左)吸收边非常普遍,在单晶蛋白质衍射图样的多波长相位分析中具有重要意义。

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西门子最近推出了HI-STAR,一种带有新型读出电子器件的多线面积检测器。与之前的型号X-1000进行了性能比较。本文介绍了所设计的方法,该方法使用定向蛋白质晶体的X射线衍射,在短时间内产生可重复的结果,消除了吸收和样品衰变问题。该方法对于探测器的比较、探测器改装的快速评估或生产线测试具有普遍适用性,尤其是因为每次测量的时间较短。

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反常X射线散射的实部和虚部都是通过单晶衍射实验测量的,同步辐射的波长穿过三个区域L(左)铯的吸收边,这是在L(左)边缘。靠近L(左)边缘(f)'在-26.7和-13.9之间变化(f)“在波长间隔为0.008 Au的4.0到16.1个电子之间。在L(左)2边缘,还有更小的L(左)1.中的精细结构(f)“曲线对应于在吸收曲线中观察到的曲线,也通过色散关系,对应于(f)'曲线。这些效应为解决大分子晶体结构的相问题提供了替代同晶替代物的前景。K(K)边缘给予(f)'与其他工人在相应波长下用不同方法测量镍和铜的值一致;观察到的最小值为(f)'=-7.5个电子。

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