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发现19条小川的引文。

搜索H·小川。世界水晶学家名录

结果1至19,按名称排序:


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测定了单斜修饰中胍基乙酸甲基转移酶的晶体结构,其中四个亚基中的三个亚基具有含有Tyr136的催化不利环。通过对Gd离子结合位点的分析,揭示了Gd离子结合的特征,并可用于制备重原子衍生物以进行定相。

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胍基乙酸甲基转移酶是催化肌酸生物合成最后一步的酶。重组大鼠肝脏胍基乙酸甲基转移酶已与胍基乙酸和S-腺苷高半胱氨酸结晶,结晶属于单斜空间群P(P)21具有单元-单元尺寸= 54.8,b条= 162.5,c(c)= 56.193°时,λ,β=96.8°K、 衍射通常超过2.8Å.

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聚合物材料在很大范围内具有层次结构。众所周知,属性依赖于层次结构。为了提高材料的性能,澄清大范围的层次结构以及对制造过程的反馈非常重要。然而,仅用单一方法很难阐明聚合物材料的多层次非均相结构。因此,微束小角和广角X射线散射(SAXS/WAXS)相结合有助于评价聚合物材料的分级非均匀结构。SPring-8中的BL03XU,别名FSBL,由工业和学术团体联合建造,自2010年起开始使用1)、2)。利用微束SAXS/WAXS方法对工业领域的先进材料进行了结构表征。除了对BL03XU的SAXS/WAXS测量系统的描述外,我们还将报告碳纤维(CF)的局部结构评估。利用微束和X射线成像技术,以1μm的空间分辨率显示了CFs的分层非均匀结构。图像对比度通过对应于空隙大小的峰位差异、对应于微晶大小的峰宽以及对应于微晶体和空隙数量的强度来确定。高模量CF的X射线散射图像如图所示。SAXS估计的纳米尺寸的空隙在纤维中心丰富,另一方面,表面附近的微晶丰富。结果表明,在纤维石墨化过程中,在纤维中心附近产生空洞,以松弛纤维表面结晶过程中的应变。我们成功地可视化了几个纳米的空隙和微晶的分布,这是X射线透射成像方法无法观察到的。

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本文提出了一个简单的单轴变形薄膜三维结构评估系统。可以获得所谓边视图和端视图上的小角度X射线散射和广角X射线衍射的二维图案以及应力应变数据通过该系统在薄膜拉伸过程中。

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研制了一种低角度、高分辨率、高信噪比的小角度光散射仪。该仪器的特点使其适合软物质研究。

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心钠素受体(大鼠)的细胞外激素结合域从2.0年开始以激素结合形式表达、纯化和结晶M(M)硫酸铵。X射线数据收集到3.1晶体冻结在3.4M(M)硫酸铵用作低温保护剂。

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研究了利用掠入射小角散射与计算机层析测量相结合重建图案化薄膜的二维图像。

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设计、实现了一个高精度的自旋-水系统,并利用高时间分辨率的掠入射小角X射线散射(GISAXS)研究了三嵌段共聚物的形成过程和膜厚。

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掠入射小角度X射线散射与计算机断层扫描(CT)相结合,可以可视化薄膜中纳米结构的空间分布。在本研究中,为了优化CT图像质量,引入了全变分正则化以最小化正弦图图像噪声和伪影。

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小角度X射线散射(SAXS)与计算机断层扫描(CT)相结合,即SAXS-CT,可以可视化样品内纳米结构特征参数的空间分布。在这项工作中,开发了一种带有Tikhonov正则化的新方案,以消除由来自样品轮廓区域的条纹散射引起的伪影。

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当材料之间的对比度和穿透深度可调时,通过散射测量可以更好地详细检查薄软物质材料的结构和性能。在所谓的柔嫩X射线区,有几个元素对小角度散射测量感兴趣,例如Mg、Al、Si、P和S。我们在Si和P的K吸收边上进行了GISAXS测量,以控制薄嵌段共聚物(SEBS)的对比度和穿透深度样品和磷脂合金系统,包括磷脂(PC,DPPC)、胆固醇和神经节苷脂,以及铝合金的SAXS。本测量中使用的光子能量足够软,可以在轻元素折射率的实部产生较大的反常效应,但足够硬,可以覆盖纳米结构分析所需的散射矢量。通过选择硅K吸收边的光子能量,可以抑制硅衬底和聚合物薄膜之间的对比度,从而抑制反射光束引起的GISAXS强度的动力学效应[1]。结合深度敏感分析,这有助于检查随着距离表面的距离而变化的纳米结构。关于薄膜内部对比度的变化,在P[2]的K吸收峰边缘检测了硅衬底上PC(磷脂酰胆碱)-胆固醇-神经节苷脂(GD1)薄膜的GISAXS强度的变化。Stuhrmann及其同事[3]已经对P的ASASS进行了研究,但之后的工作数量并不多。目前使用图像板进行的测量表明,干燥的磷脂合金膜中出现的六方相表明光子能量发生了对比度反转。

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硅的异常色散K(K)边缘用于控制硅衬底的折射率,以匹配其表面聚合物薄膜的折射率。当光子能量非常接近Si吸收边缘时,薄膜/衬底界面的漫射散射消失。

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通过调节光学速调管的色散间隙,实现了自由电子激光振荡中的谐波阶数转换。

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通过测量电子束的束长,阐明了高次谐波自由电子激光振荡对电子束的影响。

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利用NIJI-IV储存环的红外自由电子激光系统,阐明了光学速调管发射高次谐波的一些独特特性。

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提出了一种新的同时测量小角度X射线散射和广角X射线衍射(SAXS-WAXD)和涂层厚度的系统,以及溶剂蒸发过程中SAXS散射不变量的数据校正方法。在研究干燥过程中的成膜机理时,校正非常重要。

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利用软X射线在Si(001)上自组织Ge纳米点的掠入射小角散射图案显示出强烈的各向异性散射轮廓,尽管硬X射线图案是对称的。这种明显的差异可以用Ewald球体的曲率和各向异性结构因子来解释。

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