摘要

《水晶学报》。(2018).A类74，a125型

现场操作先进材料相变的微观结构研究

A.J.艾伦，F.张，L.E.莱文和J.伊拉夫斯基

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复合微结构和结构表征设备的开发就地和在操作中高级光子源的研究

J.伊拉夫斯基，F.张，R.N.安德鲁斯，I.库兹曼科，P.R.杰米安，L.E.莱文和A.J.艾伦

高级光子源的超小角度X射线散射（USAXS）设施已进行了重大升级，以提供高X射线能量下的快速USAXS扫描，以及相关的针孔小角度X光散射（SAXS）和广角X光散射测量。5内可获得完整的USAXS/SAXS/WAXS数据最小值，允许灵活就地和在操作中在各种条件下的测量能力。

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先进光子源的超小角度X射线散射

J.伊拉夫斯基，P.R.杰米安，A.J.艾伦，F.张，L.E.莱文和G.G.长

介绍了阿贡国家实验室先进光子源多功能超小角度X射线散射仪的设计和操作。

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先进光子源高能超小角度X射线散射仪

J.伊拉夫斯基，A.J.艾伦，L.E.莱文，F.张，P.R.杰米安和G.G.长

Bonse–Hart型超小角度X射线散射仪，利用硅（440）晶体光学，使用超过20 keV X射线正在研制中。该仪器具有q个分辨率～2×10⁻⁵ Å⁻¹散射矢量范围为2×10⁻⁵至1.8 Å⁻¹并显示了未来运营的前景。

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亚微米分辨率多色三维X射线显微镜

B.C.拉尔森和L.E.莱文

综述了亚微米分辨率三维X射线显微镜（3DXM）的基本技术和性能。通过选取实例，讨论了3DXM的主要应用和成果，包括局部弹性应变、塑性应变、晶体结构、相变和微观结构演化的研究。

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铜中单个位错单元通过Si通孔的全弹性应变和应力张量测量

L.E.莱文，C.奥科罗和R.Xu先生

提出了一种突破性的新能力，可以从微观结构复杂和多组分样品中的深埋亚微米样品体积中无损地测量完整的应变和应力张量。该方法在先进三维微电子学中使用的具有重要技术意义的铜通孔Si上进行了演示。

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晶体位错的X射线散射。螺钉错位的一般理论与应用

L.E.莱文和R.汤姆森

本文为理解位错的X射线散射提供了一个严格的理论框架。然后将该理论应用于螺旋位错的具体情况。

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作为对比机制的超小角度X射线散射X射线成像

L.E.莱文和G.G.长

介绍了一种利用超小角X射线散射（USAXS）作为对比机制的新型透射X射线成像技术。USAXS成像是对USAXS的补充，可以提供有关散射物体大小、形状和空间排列的定量和定性三维信息。

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利用单个位错细胞壁和细胞内部的微束衍射验证经典线型分析

L.E.莱文，P.吉安蒂尔，B.C.拉尔森，J.Z.蒂施勒，M.E.卡斯纳和刘伟（W.Liu）

深度分辨微束衍射用于测量严重变形铜单晶中众多单个位错胞壁和胞内的衍射线轮廓，允许构建过去30年来在线路剖面分析文献中近似的单元内部和单元墙子文件。通过比较重构的子文件和来自同一样本的宏观非对称线剖面，可以对此类分析中使用的许多假设进行第一次直接测试。

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位错结构的超小角度X射线散射

G.G.长和L.E.莱文

从变形的单晶铝样品中获得了超小角度X射线散射数据。这些数据与最近关于位错壁散射的理论预测一致，从而可以提取定量的微观结构参数。

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现场位错对小角度X射线散射的观测

G.G.长，L.E.莱文和R.汤姆森

观察到单晶铝中位错的超小角度X射线散射就地作为塑性变形的函数。散射强烈依赖于样品的取向，单个位错、位错偶极子和壁内位错分布都显示出不同的散射轮廓。已观察到的微观结构特征包括：位错有序分数之间的相关性，位错偶极子的存在，位错含量随应变增加而增加，位错壁与周围近无位错材料的界面宽度随着变形的增加而减小。

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