吸收边周围衍射峰强度随能量的变化早已为人所知。直到最近，才对对映体进行了共振弹性x射线散射（REXS）实验[1]，这表明了该技术对研究这些材料中的微小特征的敏感性。在左右低石英中，（001）反射强度的方位扫描通过呈现3倍的周期性显示出角各向异性。当从右向左改变对映体或改变光的螺旋度时，这些扫描会发生偏移，振幅振荡也会发生变化。我们的目的是表明，记录左右低石英中（001）反射强度的方位扫描可以通过适当考虑入射电磁波的极化特性来完全解释。更重要的是，我们表明，当这个实验还不完全为人所知时，这样的实验是完全确定光特性的一种极好的方法。从这些扫描中，我们得到了3个方程，给出了它们的相对位移、振幅振荡和极化率之间的比率。因此，由于这些方程只依赖于对称性和几何形状，因此无需模拟，我们可以得到三个未知值，即Stokes参数值。这种特性不依赖于能量或吸收原子的原子序数。因此，这在其他边缘或其他具有相同对称性的化合物（如GeO2）上是可行的。这为在宽能量范围内表征光的偏振特性提供了可能性。这项研究得到了REXS和线性二色性从头算模拟的支持，以验证我们的证明，并消除其他可能性，例如过渡通道（E1E2或E2E2）或双折射效应的更高贡献。
