现场溶液介导纳米氧化铈形成和生长的超小角X射线散射研究

A.J.艾伦,V.A.哈克利,P.R.杰米安,J.伊拉夫斯基,J.M.雷塔诺和S.-W.陈

描述了用于就地溶液介导体系的超小角度X射线散射研究。给出了纳米氧化铈均匀溶液实时形成和生长的结果，揭示了新的方面。

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小角度散射测量的元数据

A.J.艾伦,F.张,J.伊拉夫斯基和P.R.杰米安

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硅气凝胶中钴沉淀的奥斯特瓦尔德成熟？超小角度X射线散射研究

A.布劳恩,J.伊拉夫斯基,B.C.邓恩,P.R.杰米安,F.E.哈金斯,E.M.伊林和G.P.哈夫曼

二氧化硅气凝胶掺入钴，还原，并用超小角度X射线散射进行研究q个空间，覆盖5至3000℃的真实空间，暴露所有气凝胶的微孔、中孔和大孔。

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先进光子源的超小角度X射线散射

J.伊拉夫斯基,P.R.杰米安,A.J.艾伦,F.张,L.E.莱文和G.G.长

介绍了阿贡国家实验室先进光子源的多功能超小角度X射线散射仪的设计和操作。

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复合微结构和结构表征设备的开发就地和在操作中高级光子源的研究

J.伊拉夫斯基,F.张,R.N.安德鲁斯,I.库兹曼科,P.R.杰米安,L.E.莱文和A.J.艾伦

高级光子源的超小角度X射线散射（USAXS）设施已进行了重大升级，以提供高X射线能量下的快速USAXS扫描，以及相关的针孔小角度X光散射（SAXS）和广角X光散射测量。5内可获得完整的USAXS/SAXS/WAXS数据最小值，允许灵活就地和在操作中在各种条件下的测量能力。

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先进光子源高能超小角度X射线散射仪

J.伊拉夫斯基,A.J.艾伦,L.E.莱文,F.张,P.R.杰米安和G.G.长

Bonse–Hart型超小角度X射线散射仪，利用硅（440）晶体光学，使用超过20 keV X射线正在研制中。该仪器具有q个分辨率～2×10⁻⁵ Å⁻¹散射矢量范围为2×10⁻⁵至1.8 Å⁻¹并显示了未来运营的前景。

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Irena公司：用于小角度散射建模和分析的工具套件

J.伊拉夫斯基和P.R.杰米安

Irena公司介绍了一套用于分析小角度散射数据的科学软件。描述了软件包中包含的模型、图形用户界面和用户支持工具以及软件分发。

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爱尔兰小角度散射数据分析和建模软件包

J.伊拉夫斯基和P.R.杰米安

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调制异常X射线散射

P.R.杰米安,J.E.恩德比,A.梅里亚姆,D.L.价格和M.-L.Saboungi先生

为了确定多组分系统中与特定元素相关的部分结构，提出了基于调制反常X射线散射（MAXS）的对比度变化。入射到样品上的X射线束的光子能量在所选元素吸收边缘以下的能量范围内进行调制。由于反常色散，散射强度梯度相对于能量的测量提供了所需的信息。MAXS可用于小角度和广角衍射，原则上适用于晶体、非晶和液晶材料。通过将单色器的布拉格角摆动少量，然后进行相敏检测，可以获得能量调制，从而显著减少系统误差和统计误差。氯化镍水溶液中MAXS的模拟研究结果₂在稀释和散射对比度的极端条件下。

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NXcanSAS：存储任何维度的缩减SAS数据的标准

P.R.杰米安,A.杰克逊,T.里希特,P.巴特勒,S.金,A.伦尼和B.鲍

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用于在XML文件中存储简化的一维小角度散射数据的canSAS标准

P.R.杰米安,A.J.杰克逊,S.M.金,K.C.利特雷尔,A.R.J.纳尔逊,R.E.Ghosh先生和J.伊拉夫斯基

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用于小角度X射线散射的硅光电二极管探测器

P.R.杰米安和G.G.长

建立了一个光电二极管X射线探测器，用于测量同步辐射源处的小角度X射线散射（SAXS），该探测器与双晶衍射仪SAXS相机配合使用，光子能量为5-11keV。在光子计数率高达10时，光电二极管探测器在该能量范围内的响应是线性的¹²光子^-1因此，没有必要用校准箔衰减单色X射线束。对闪烁计数器和光电二极管探测器采集的SAXS数据进行了比较，表明在计数统计、数据采集速度和信噪比方面有显著改善。

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形状函数对最大熵法小角度散射分析的影响

P.R.杰米安和A.J.艾伦

分析小角度散射数据以获得粒径分布取决于用于散射建模的形状函数。从小角度散射的最大熵分析来看，使用三种不同的形状函数来描述两种合金中每种合金的相同散射数据，证明了形状函数选择对获得的尺寸分布的影响。电子显微镜显示，合金中含有随机取向的、主要不相互作用的不规则椭圆形沉淀物。对形状函数的不同形式进行了比较。还显示了入射波长分布的影响。讨论了测试适当形状函数并根据其他微观结构研究验证这些函数的重要性。

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NeXus数据格式

M.Könnecke先生,F.A.阿克罗伊德,H.J.伯恩斯坦,A.S.布鲁斯特,S.I.坎贝尔,B.克劳森,S.科特雷尔,J·U·霍夫曼,P.R.杰米安,D.梅内克,R.奥斯本,P.F.彼得森,T.里希特,J.铃木,B.瓦特,E.温特斯伯格和J.伍特克

描述了X射线、中子散射和μ子谱学的NeXus数据格式。

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二元溶液中胶体周围纳米晕的形成

G.G.长,F.张,P.R.杰米安,J.伊拉夫斯基,V.T.Milam公司和J.A.刘易斯

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多孔二氧化硅先驱体微观结构的小角散射测定

G.G.长,S.克鲁格,P.R.杰米安,D.R.黑色,H.E.Burdette先生,J.P.克莱恩和R.A.格哈特

对一系列具有不同起始化学性质的多孔二氧化硅先驱体（未烧结）进行了小角度X射线和小角度中子散射测量。样品由含有10至30%重量百分比的硅溶胶和90至70%重量百分比的硅酸钾的混合物制备而成。使用最大熵技术从数据中得出颗粒大小分布。多孔二氧化硅样品的散射数据特别适用于此类分析，因为详细验证了这些颗粒的胶体颗粒、团簇和聚集体是球形的，本研究使用的散射仪器涵盖了该材料的整个尺寸范围，并且经过了很好的校准。研究发现，胶体二氧化硅含量越低，二氧化硅聚集体的粒度分布越广。

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用于反常散射的高分辨率小角度X射线散射相机

G.G.长,P.R.杰米安,J.R.威特曼,D.R.黑色,H.E.Burdette先生和R.Spal公司

介绍了一种新型小角度X射线散射仪器的设计和操作，该仪器在同步辐射源下具有高吞吐量、高角度和波长分辨率、大样品截面积、精确的能量调谐、优良的信噪比和谐波抑制性能。给出了设计和实现的原则，以及绝对强度的初步校准和实验测量的细节。该仪器已被测试用于铬附近的异常散射测量K（K）边缘。对热处理钢样品的初步结果表明，该实验能够将微观结构演变（富铬沉淀物温度的函数）与钢中其他沉淀物的热行为分离开来。

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小角度X射线散射低温恒温器窗口

L.卢里奥,N.穆德斯,M.Paetkau先生,P.R.杰米安,S.Narayanan公司和A.桑迪

使用小角度X射线散射表征了适用于X射线低温稳定器的各种窗口材料的寄生散射。

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硼硅酸盐玻璃中氦气泡形成的小角度X射线散射测量

A.Y.特雷霍夫,B.J.海瑟,M.A.奥库涅夫斯基,R.S.Averback公司,S.Seifert公司和P.R.杰米安

他⁺植入剂量为9×10¹³至2.8×10¹⁶ 离子厘米⁻²，对应于约1的注入深度上平均的40到11200个百万分之原子（a.p.p.m）的局部浓度范围 μm，用于研究硼硅酸盐玻璃中氦气泡的形成。对散射数据进行拟合，得出氦气泡半径和氦气泡体积分数在5到15之间变化从10开始⁻³到10⁻¹分别随着剂量的增加。

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