我们使用SPring-8的高压XRD光束线BL10XU[1]指定的复合x射线折射透镜（CRL）开发了独特的x射线聚焦光学元件。CRL是一组平面交叉透镜，具有双向聚焦的准抛物线轮廓，由SU-8聚合物通过德国IMT的深度x射线光刻技术制成[2]。聚焦光学元件由两组CRL和一个串联的针孔组成。利用一组上游CRL和针孔作为虚拟源来产生均匀发散光束。下游CRL位于针孔和焦点（样品位置）之间，用于将x射线聚焦到微米尺寸。聚焦光束的大小由针孔直径与光源透镜与透镜焦点距离之比之间的关系确定。在以下条件下，我们成功地将x射线束垂直聚焦至2.4微米，水平聚焦至2.1微米，正如我们设计的那样：30 keV x射线，直径10微米针孔，源透镜与样品距离之比为11:1。将束流通量转换为约1015 cps/mm2的通量密度，其强度足以在亚秒曝光中获得XRD轮廓，即使在几百GPa的样品条件下也是如此。利用该系统，我们从DAC中微米级的子结构（如电阻测量电极、样品室中安置的微线圈等）中获得了清晰的XRD分布图。微束技术将为高压实验带来新的应用，并且变得更加重要，以增强精确的分析，例如DAC的样品室中的晶粒/元素分布、部分熔融、溶液和/或化学反应，以及在500GPa以上收集高质量的XRD。此外，现在可以实现亚微米光束聚焦，这将是扫描XRD显微镜探针的关键技术。
