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发现27条针对费斯特的引文,P.F。

Fewster有27篇文章,P.click在这里来看看这些。

搜索费斯特,P.F。世界结晶学家名录

结果1到20,按名称排序:


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一种获得层状结构绝对晶格参数的方法,其精度为10的几个单位6如所述。参考晶体的第二个电动轴安装在商用单轴测角仪上,以便将双晶摇摆曲线与单晶晶格参数测量相结合。摇摆曲线和晶格参数测量是从相同的高角度布拉格反射中获得的,因此具有较高的精度。

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重新评估结构因素的含义及其对结构确定的影响。针对几种数据采集方法和晶体质量,提出了一种获取结构因子的方法。

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通过考虑分布在整个空间中的散射,即使在不满足布拉格条件的情况下,在布拉格角也会有强度增强。这导致了粉末和小晶体衍射的另一种解释。

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介绍了一种新型的透射式粉末衍射仪。它可以作为一种快速、紧凑的仪器或高分辨率仪器工作,并且简化了样品制备。

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本文介绍了一种新的衍射仪,它不需要运动部件,几乎可以瞬间收集高分辨率X射线数据。给出了InGaAs/GaAs和SiGe/Si多层结构的示例数据。

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描述了一种新的高分辨率低噪声X射线衍射仪,该衍射仪需要最小的样品对准。示例包括微衍射模式下半导体的分析,以及弯曲和不完美样品的研究,并将结果与其他衍射仪的结果进行了比较。

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本期应用晶体学杂志包括2012年在圣彼得堡举行的第11届高分辨率X射线衍射和成像(XTOP)两年一度会议的一些亮点。

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该方法使用高分辨率多晶体多反射衍射仪测定均匀和非均匀晶体材料的原子间距,精确到百万分之几。

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来自晶体完美性的扰动将导致X射线散射,可以通过地形成像来获得缺陷信息,而不需要完美晶体散射的淹没作用。本文阐明了探针形状对获取该扩散区域地形图像的重要性,不仅有助于解释,而且有助于隔离散射的贡献者,硅和锗衬底晶体已被映射到非常高的分辨率,漫反射散射已被地形成像。结果表明,大部分散射源于表面损伤和位错,而不是点缺陷或热扩散散射(TDS)。后两种成分通常是二阶效应,在高度完美的晶体中只能作为非常微弱的背景强度来识别。这种地形学方法对表面损伤非常敏感。这是因为靠近布拉格峰的相关散射可以用来形成图像。因此,这种相对强烈的散射提供了几个小时内的地形图,用于评估基底表面质量。该方法的灵敏度通过非常完美的半导体中的表面缺陷和位错的图像来说明。本文还介绍了一种测量微缺陷散射的方法。

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开发了一种模拟含缺陷晶体Bragg-case动态衍射轮廓的程序。这种轮廓的模拟已经应用于部分弛豫的半导体层结构,其晶格参数和层厚度足以引起界面缺陷。该程序具有最小的输入参数,因此适用于日常使用,并已证明与实验数据吻合良好,还可以预测界面处产生的应变场的范围。利用高分辨率衍射空间映射和地形图,对这些应变层结构中的松弛参数进行了评估。

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将多晶体衍射剖面和多晶体形貌结合起来,对半导体材料进行了表征。通过在高分辨率衍射仪的衍射光路中插入胶片盒,在样品的同一区域测量了X射线地形图,作为衍射轮廓和衍射空间图。事实证明,这是一个非常强大的组合,可以更深入地了解产生高分辨率衍射剖面的结构特征。讨论了数据收集模式以及与解释不完美材料的“摇摆曲线”相关的问题。用这种方法揭示了半绝缘砷化镓中镶嵌块的取向错误和性质。

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建立了一台高分辨率多反射衍射仪,用于研究因外延变形的晶体和近乎完美晶体中的缺陷。衍射仪结合了双晶四反射单色仪(定义具有无尾反射率剖面的窄波长范围)和分析晶体的优点,以选择样品晶体衍射的角度范围。衍射仪有两种操作模式。在第一种模式中,样品和分析仪的旋转耦合,以获得畸变晶体的近完美摇摆曲线,在第二种模式下,两个轴解耦,以获得用于研究扩散散射的衍射空间图。基于动力学理论对这些轮廓和图进行了模拟。前者允许对复杂结构进行分析,后者通过对这些地图中的动态散射进行去卷积,允许对运动学散射进行完整解释。

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描述了一种估算多量子阱(MQW)结构中界面宽度的方法。一般来说,人们假设量子阱两侧的平均界面形状相同,但没有理由认为这是正确的。本文提出的方法可以预测量子阱两侧的界面轮廓,从而检测到任何不对称的存在。将结果与更熟悉的预测傅立叶变换方法进行了比较,并观察到定性一致性,尽管后者无法预测任何不对称性。由于串联终止效应,从预测傅里叶变换方法推导界面宽度可能很困难,如果测量的卫星数量不足,可能会产生误导。使用所述方法基本上可以绕过这些限制。还提供了一种推导周期变化的简单方法,在所给出的示例中,这相当于两个单层。本例中的界面宽度为6.5和5.4单层,这些最佳拟合值给出了R(右)-因子刚好高于数据中的预期值。此外,适用于两个相似级配的界面会导致协议严重恶化。

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针对Fraser&Wark的评论[(2018),《水晶学报》。A类74,447–456]给出了新理论在修正的Ewald球结构背景下的实验证据和解释。

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介绍了一种基于Hart设计的双晶衍射仪快速对准方法(晶体生长缺陷的X射线表征由Tanner&Bowen编辑,第483-485页。Plenum出版社,伦敦,1980年)。推导了晶体倾斜和旋转变化的理论强度分布,并描述了一种使用这些分布以系统方式对准任何双晶衍射仪的方法,适用于计算机自动化。还给出了简单失配测量的对准要求。

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