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从固定入射角的不对称衍射获得的强度增强α已经过研究。平行束同步辐射λ= 1.54(斯坦福同步辐射实验室)和λ= 1.53使用光学工厂收集Si,CeO的粉末衍射图案2(α=5和10°)和单斜ZrO2(α= 10°). 利用单反射剖面拟合和全粉末打印拟合技术对同步辐射数据进行了分析。将非对称衍射中的积分强度与传统方法获得的对称衍射的积分强度进行了比较θ–2θ扫描技术。在对有限的反孔径高度进行校正后,强度提高了1.8倍(α=5°)和1.7(α=10°),其大小与理论计算值吻合良好。
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